μCMM

Optical coordinate measuring machine to measure tight tolerances

測量精密公差的光學坐標測量機

光學坐標測量機(CMM ),以最高精度測量大型部件上的小表面細節

CMM是第一臺純光學坐標測量機，用于高精度測量極其精密的公差。用戶結合了觸覺坐標測量技術和光學表面計量的優勢:

• 僅用一個傳感器測量尺寸、位置、形狀和粗糙度
• 整個測量范圍內的高精度
• 具有焦距變化的非接觸光學坐標測量
• 適用于啞光到高度拋光的部件
• 易于操作
• 無磨損，堅固耐用，適合生產

光學測量機提供多個光學3D測量值之間的高幾何精度，能夠測量大型部件上的小表面細節，并精確確定這些單獨測量值之間的相對位置。可測量表面的范圍包括所有常見的工業材料和復合材料，如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、鉻、硅。

簡單的操作通過單按鈕解決方案、自動化和人體工程學控制元素(如專門設計的控制器)來實現。線性驅動的空氣軸承軸可實現無磨損使用和高精度、快速測量。這使得μCMM成為永久使用的理想坐標測量系統，在生產中也是如此。