Beam Imaging Solutions HRBIS系統使高分辨率光束成像成為可能。HRBIS可用于測量離子束，電子束和中性束的二維或三維強度分布。HRBIS還可以用于X射線成像，以用于針孔成像和光譜學等應用。使用微通道板（MCP）和熒光屏組合創建圖像。熒光粉均勻地沉積在相干的光纖（FO）基板上，從而可以將圖像光學傳輸到真空系統的外部進行分析。使用一系列FO導管將圖像連貫地傳輸到真空視口，在真空視口中，可以用眼睛觀察圖像，或使用CID或CCD相機系統對其進行記錄和處理。HRBIS系統有許多不同的配置以最適合客戶的特定應用和預算。我們的報價單使您可以輕松地索取所需的配置價格。
HRBIS-11000型高分辨率光束成像系統如下所示。右圖顯示了HRBIS的標準相機轉接環。環上有用于連接攝像機安裝系統的螺紋孔，所有可選攝像機系統都提供該孔。
 |  帶撓性光纜耦合器的HRBIS-20034（遠程系統） |  帶光纖桿耦合器的HRBIS-41024（標準系統） |
HRBIS-11000型高分辨率光束成像系統如下所示。右圖顯示了HRBIS的標準相機轉接環。環上有用于連接攝像機安裝系統的螺紋孔，所有可選攝像機系統都提供該孔。
 |  |  質量分離的離子束，顯示出EXB Wien濾波器的邊緣場。使用型號HRBIS-40034成像系統和型號IPS-1圖像處理系統制作圖像。圖像約為36.4mm x 26.4mm。 |
質量分離的離子束，顯示出EXB Wien濾波器的邊緣場。使用型號HRBIS-40034成像系統和型號IPS-1圖像處理系統制作圖像。圖像約為36.4mm x 26.4mm。