美國DATARAY PPBS-UV-FS保偏光束采樣器,激光光束質量分析系統
美國DATARAY 生產兩種類型的掃描狹縫光束分析儀：BeamMap 系列，提供實時 M2、發散、聚焦和對準管理，以及 Beam’R 系列， 緊湊且精確的光束分析，所有的狹縫掃描光束分析儀均配備 Si、Ge 和 InGaAs 探測器，覆蓋波長從 190 nm 到 2500 nm。
美國DATARAY高功率光束采樣器，帶 SM1 螺紋、雙楔塊、偏振不敏感
Dataray保偏光束采樣器 (PPBS) 使用雙楔形設計對激光束分析應用中一小部分光束功率進行采樣。PPBS 對兩個正交楔形窗口的反射進行采樣，以安全地降低高強度光的功率，同時保留輸入光束的原始偏振并消除每個空氣玻璃界面的多次反射的影響。
楔形選項
- 紫外-FS：190 nm – 2200 nm
- BaF?2?: 200 nm – 11 μm
- CaF?2?: 200 nm – 8 μm
- 硒化鋅：600 nm – 16 μm
特征
- 高損傷閾值
- 通光孔徑：17.5毫米
- 采樣百分比：0.02%-3.75%（取決于型號和波長）
- 可用的BeamTrap適用于高達 50 W 的光束（通過定制殘余光束處理可實現更高的功率）
- 可用的柱式安裝套件
Specification Detail Wedge material options UV-FS
BaF2
CaF2
ZnSeDamage Threshold See?Damage Threshold App Note Clear aperture (mm) 17.5 Wavelength range UV-FS: 190 nm – 2200 nm
BaF2: 200 nm – 11 μm
CaF2: 200 nm – 8 μm
ZnSe: 600 nm – 16 μmSampled percentage 0.02%-3.75% (model and wavelength dependent) Optical path length 50 mm Available options BeamTrap?for beams to 50?W
Adjustable post mount kit
