弧焊過程中紫外線輻射的測量和評估BTS2048-UV-S
由于產生高水平的紫外線輻射，焊接過程中必須使用個人防護設備（PPE）。評估焊接過程中與紫外線暴露相關的危害，需要測量光譜輻照度，并根據生物有效性進行加權。焊接電弧內動態光學過程的測量需要專業設備以及使用和評估測量結果的專業知識。IFA、Sankt Augustin和多特蒙德聯邦職業安全與健康研究所已經就焊接過程中紫外線輻射暴露的測量和評估[1]編制了綜合研究報告，包括動態方面的考慮[2]。這些報告使用了Gigahertz Optik GmbH提供的各種專業測量設備，包括紫外分光輻射計[3]、紫外輻射計[4][5]和個人劑量計[6][7]。
使用這種高質量的緊湊型光譜輻射計在紫外線下進行測量
與雙單色儀相比，雜散光減少率高
超高速接口和電子快門
高光學分辨率
適用于各種測量任務（紫外線LED、氘燈、鎢燈對太陽輻射）
高雜散光減少有助于將精確校準轉換為精確測量
用于高質量紫外線測量的BTS2048-UV-S快速BiTec傳感器光譜輻射計
BTS2048-UV-S是一款高質量的光譜輻射計，其緊湊的設計和精密的光學、電子和機械接口使其成為復雜工業和科學測量任務集成的理想選擇。
用于高端光線測量的BiTec傳感器
這種特殊的光譜輻射計的一個突出特點是其BiTec傳感器（見關于BiTec傳感器的技術文章）。這結合了光電二極管和后減薄CCD二極管陣列的特殊特性。通過對來自兩個傳感器的測量信號進行雙邊校正，BiTec傳感器確保在大動態范圍內獲得精確的輻射和光譜輻射測量值。
高質量后減薄CCD探測器
由2048個像素組成的二極管陣列具有190 nm到430 nm之間的可利用光譜響應范圍。它的光學帶寬為0.7nm，像素分辨率為0.13nm/像素。由于采用了后減薄技術，與傳統的前照CCD芯片相比，這種CCD芯片的靈敏度大大提高。此外，CCD為單級冷卻（1TEC）。
它的另一個特點是，背面減薄的CCD探測器配備了電子快門。這使得在閃光燈下進行測量成為可能。BTS2048-UV-s具有多樣的觸發功能、2μs到60000ms的集成時間、強大的微處理器和非常快速的LAN接口（完整的數據文件為7ms），適合廣泛的應用。
精密光譜輻射測量（低直射光）
為了更好地利用CCD傳感器的動態范圍，并克服大多數陣列光譜儀在紫外線范圍內的問題，在光路中有一個遠程控制的濾光片輪（開放式、封閉式、光學濾光片）。該濾光片與智能測量和雜散光校正程序相結合，可實現BTS2048-UV-S的高質量測量。結果可與雙單色儀結果進行比較（見圖）。然而，測量時間要少得多。由于BTS2048-UV-S安裝了一個帶8個濾光位置的濾光輪，因此與BTS2048-UV相比，還安裝了一個減少雜散光的智能測量程序。另請參閱我們關于光譜輻射計雜散光減少的技術文章。
用擴散窗代替導光板
至于輸入光學元件，BTS2048-UV-S有一個帶有余弦校正視場的集成擴散器窗口。未使用光導的事實提高了靈敏度和校準穩定性。f2將余弦校正視場調整到小于3%，使BTS2048-UV-S可用于絕對輻射測量中的直接測量
輻照度（W/m2）
光譜輻照度（W/（m2nm））
輻射強度（W/sr）
光譜輻射強度（W/sr nm）
在積分球方面，BTS2048-UV-S是測量輻射功率和光譜輻射功率的最佳測光儀。可以將帶前綴的擴散器窗口放置在球體中，以便創建不間斷的半球視野。千兆赫茲Optik生產各種積分球以及必要的附件，如校準標準。
超高速接口
BTS2048-UV-S通過USB 2.0或以太網接口進行控制。就通信速度而言，以太網端口優于USB2。0接口。此外，數據準備在BTS2048-UV-S中進行，以優化數據傳輸速度。為此，集成了一個獨立的高性能微處理器。
具有靈活桌面結構的用戶軟件
BTS2048-UV-S交付內容中包括S-BTS2048用戶軟件。它必須提供的一個特點是靈活的桌面，用戶可以單獨配置。這意味著用戶可以從中選擇圖形和數字顯示窗口：
十進制或科學表示的可自由定義的數字顯示。縮放功能。
用于輻射測量、光譜測量和其他測量的數字顯示區域。
所選測量參數的測量協議。
CIE 1931色度圖。縮放功能。譜縮放功能。數據記錄器。縮放功能。等
