瑞士IDONUS 紅外光晶圓粘接檢測設備WBI100

瑞士IDONUS 紅外光晶圓粘接檢測設備WBI100

硅對紅外光具有良好的透過性。我們的紅外光晶圓粘接檢測設備(WBI)從背面照射硅襯底,并捕捉穿透襯底的光。因此,可以檢測在兩個硅襯底之間的現象,這些現象從外部是不可見的。

該檢測設備配備有紅外光源和準直光學系統,以均勻強度的光束照射晶圓。紅外敏感相機通過USB連接將檢測襯底的圖像顯示在計算機上。相機的視場和放大倍率可以手動調整。

Idonus生產適用于100 mm、150 mm和200 mm晶圓的紅外檢測設備。較小的晶圓可以通過適配環進行可視化。200 mm版本配備有電動晶圓夾具,能夠以更高的放大倍率檢測整個晶圓。

可視化晶圓需要一臺帶USB端口且運行Windows 2000或更高版本的個人計算機。

應用:

  • 融合粘接前后的檢測
  • 硅晶圓/芯片的對準
  • 質量控制
  • 大型釋放的MEMS設備檢測
  • 埋藏材料(如SOI晶圓)的蝕刻速度測量
產品編號WBI100WBI150WBI200
晶圓尺寸最大100mm / 4”最大150mm / 6”最大200mm / 8”
可視化最小特征尺寸100μm150μm200μm
視場直徑100mm150mm200mm
相機單色140萬像素近紅外攝像頭,USB 2.0輸出
紅外光源波長1μm
電源230 VAC, 50 Hz 或 110 VAC, 60Hz
功耗125 VA
尺寸(寬 x 深 x 高)380 x 460 x 1810 mm3
重量40kg
占地面積380 x 460 mm2
安裝要求帶USB 2.0端口的PC或筆記本電腦
操作系統Microsoft (Windows 2000或更高版本)
相機圖像在PC上查看
可選
圖像分析軟件應要求提供
放大光學視場(FOV)在晶圓尺寸與直徑20mm之間