jchadwick 5500 測微計實驗室支架,當被測物體無法放入物鏡下方,或其表面幾何形狀無法配合測微計底座時,將光學測微計作為手持設備使用就會變得困難。
當被測物體無法放入物鏡下方,或其表面幾何形狀無法配合測微計底座時,將光學測微計作為手持設備使用就會變得困難。
適用于以下情況:
復雜幾何結構
凹面
精密表面處理
實驗室支架取消了底座,因此測微計不會與被檢表面接觸。這為應用拓展了范圍,在現有底座不適用時提供了理想的替代方案。
測微計可傾斜,用于檢查花鍵和邊角位置。
X-Y 移動平臺可在視野范圍內精確定位被測物體。
該實驗室支架非常適合與 Dino-Eye 相機配合使用,因為它能穩固地支撐測微計,并解放用戶的雙手。
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