jchadwick 5500 測微計(jì)實(shí)驗(yàn)室支架,當(dāng)被測物體無法放入物鏡下方，或其表面幾何形狀無法配合測微計(jì)底座時(shí)，將光學(xué)測微計(jì)作為手持設(shè)備使用就會(huì)變得困難。
當(dāng)被測物體無法放入物鏡下方，或其表面幾何形狀無法配合測微計(jì)底座時(shí)，將光學(xué)測微計(jì)作為手持設(shè)備使用就會(huì)變得困難。
適用于以下情況：
復(fù)雜幾何結(jié)構(gòu)
凹面
精密表面處理
實(shí)驗(yàn)室支架取消了底座，因此測微計(jì)不會(huì)與被檢表面接觸。這為應(yīng)用拓展了范圍，在現(xiàn)有底座不適用時(shí)提供了理想的替代方案。
測微計(jì)可傾斜，用于檢查花鍵和邊角位置。
X-Y 移動(dòng)平臺(tái)可在視野范圍內(nèi)精確定位被測物體。
該實(shí)驗(yàn)室支架非常適合與 Dino-Eye 相機(jī)配合使用，因?yàn)樗芊€(wěn)固地支撐測微計(jì)，并解放用戶的雙手。
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