產品說明
當使用MetriCorr ICL系列設備時，必須配備ER探針以測定腐蝕速率并獲取電化學特征數據。該探針通過模擬涂層缺陷，測量暴露的試片元件與屏蔽參比元件的電阻值，并運用簡易算法計算探針厚度變化。
通過同步記錄腐蝕速率與電化學特征數據（如干擾工況下的參數），可實現對腐蝕效應的精準分析。所有關鍵參數（腐蝕速率、交/直流電位、交/直流電流密度及分布電阻）均在同一金屬表面測量，確保分析結果包含所有相互作用的化學與電化學反應。
ER探針適用于多種腐蝕環境監測，多樣化的探針結構與外殼材質設計可滿足不同工況需求，并在整個使用壽命期間持續為運營者提供可靠的腐蝕與陰極保護數據。
最新款MetriCorr ERv2探針在插頭內嵌存儲芯片，載有數字證書。當連接至MetriCorr Slimline ICL或ICL-C設備時，系統將自動讀取認證信息并立即進入測量就緒狀態。
產品特性
- 腐蝕速率監測 —— 超高分辨率，可實現精準腐蝕診斷
- 試片測量 —— 交/直流電流密度、極化電位、分布電阻
- 嵌入式認證數據 —— 無需紙質文件記錄
- 工程優化設計 —— 特別適用于交/直流干擾腐蝕監測
- 溫度補償系統 —— 配備散熱器、參比電極及專利補償技術
- 堅固結構設計 —— 可適應土壤環境/高溫工況/海上作業
測量功能
? 腐蝕速率
? 瞬時斷電電位
? IR降補償電位
? 直流電流密度
? 交流電流密度
? 分布電阻
