MIP LM 3086 EPA3灰塵和不透明度監測器

 

  • 可靠、堅固的激光技術
  • 易于安裝
  • 減少維護
  • 獨特的模擬零點和量程校準系統
  • 光學表面的連續控制
  • 符合美國環保局40 CFR附錄B PS1（修訂版）要求
  • TüV根據第13條獲得批準。BlmSchV和TA Luft
  • MCERTS性能標準第4版，日期為2018年7月：EN15267和QAL1

光學參考路徑

光學器件中的污垢從測量值中消除，提供真正的長期精度和穩定性

自動校準和零點檢查每秒40次

激光光源

  1. 在不改變系統中單個組件的情況下測量長達20米的路徑
  2. 出色的光束準直（窄而強的激光束）
  3. 標準波長和光學參考路徑保證了長期的準確性和穩定性

功能

  • 基本系統健康檢查的啟動診斷
  • 在后臺進行連續診斷，以警告異常或超出規格的情況
  • 光學和質量讀數的多種顯示器替代方案
  • 易于與CEMS系統集成
  • 現場審核，無需在安裝位置拆卸
Opacity %?Range 0 … 100.0 %
Opacity %?Resolution 0.1 %
Optical densityRange 0 … 3.0
Optical densityResolution 0.001 D
Mass / g/m3Range 0 … 100
Mass / g/m3Resolution 1 mg/m3
?
PS-1/Test time 1 hourCalibration drift < 0.2 %
PS-1/Test time 24 hoursCalibration drift < 0.2 %
PS-1/Test time 336 hoursCalibration drift < 0.2 %
PS-1/Test time 1 hourZero drift < 0.2 %
PS-1/Test time 24 hoursZero drift < 0.2 %
PS-1/Test time 336 hoursZero drift < 0.2 %
?
Stack overpressure, max25 mbar
Stack temperature, max+ 650 °C
Path length?1 … 20 meters

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