MIP LM 3086 SE灰塵和不透明度監(jiān)測器

  • 可靠、堅(jiān)固的激光技術(shù)
  • 易于安裝
  • 減少維護(hù)
  • 獨(dú)特的模擬零點(diǎn)和量程校準(zhǔn)系統(tǒng)
  • 光學(xué)表面的連續(xù)控制
  • TüV根據(jù)第13條獲得批準(zhǔn)。BlmSchV和TA Luft
  • MCERTS性能標(biāo)準(zhǔn)第4版，日期為2018年7月：EN15267和QAL1

光學(xué)參考路徑

光學(xué)器件中的污垢從測量值中消除，提供真正的長期精度和穩(wěn)定性

自動(dòng)校準(zhǔn)和零點(diǎn)檢查每秒40次

激光光源

  • 在不改變系統(tǒng)中單個(gè)組件的情況下測量長達(dá)20米的路徑
  • 出色的光束準(zhǔn)直（窄而強(qiáng)的激光束）
  • 標(biāo)準(zhǔn)波長和光學(xué)參考路徑保證了長期的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性

功能

  • 基本系統(tǒng)健康檢查的啟動(dòng)診斷
  • 在后臺進(jìn)行連續(xù)診斷，以警告異?；虺鲆?guī)格的情況
  • 光學(xué)和質(zhì)量讀數(shù)的多種顯示器替代方案
  • 易于與CEMS系統(tǒng)集成
  • 現(xiàn)場審核，無需在安裝位置拆卸
Opacity %?Range 0 … 100.0 %
Opacity %?Resolution 0.1 %
Optical densityRange 0 … 3.0
Optical densityResolution 0.001 D
Mass / g/m3Range 0 … 100
Mass / g/m3Resolution 1 mg/m3
?
PS-1/Test time 1 hourCalibration drift < 0.2 %
PS-1/Test time 24 hoursCalibration drift < 0.2 %
PS-1/Test time 336 hoursCalibration drift < 0.2 %
PS-1/Test time 1 hourZero drift < 0.2 %
PS-1/Test time 24 hoursZero drift < 0.2 %
PS-1/Test time 336 hoursZero drift < 0.2 %
?
Stack overpressure, max25 mbar
Stack temperature, max+ 650 °C
Path length?1 … 20 meters

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