?qpod/MPKIT 可控溫度比色皿支架將qpod樣品室與全套透鏡和球面鏡相結合，這些透鏡和球面反射鏡可以以多種方式配置，以測量溫控溶液的吸光度和熒光。光學封裝包括兩個準直透鏡、兩個成像透鏡和兩個球面鏡。qpod可控溫度比色皿支架是一個大致正方形的盒子，側面約120毫米，高90毫米。中心是一個溫度控制塔，四個側面各有光學端口，狹縫支架用于控制光學訪問。將您的樣本放入中心塔的比色杯中。qpod可控溫度比色皿支架的四個側面都有一個用于光學組件的安裝環，熱穩定，并與塔精確對齊。根據需要放置光學器件。準直透鏡將產生直徑約為5毫米的準直光束并使其穿過比色杯，或者將獲得5毫米的校準光束并將其聚焦到另一根光纖上。

成像透鏡將把光纖的末端聚焦到比色杯的中間，或者將照明體積的一部分聚焦到另一根光纖上，放大倍數約為1。球面鏡將把從比色杯中心發出的任何光聚焦回自身，從而使入射或發射的光幾乎加倍。根據實驗需要添加光源、透鏡、濾光片、偏振器、鏡子、光譜儀和探測器。qpod比色皿支架的大多數應用利用光纖來傳輸光，但也可以使用各種激光器、聚焦光源和探針。通過對隔間進行干氣吹掃，可以在低于-30°C的低溫下輕松使用。標準qpod比色皿支架很容易達到+110°C。購買延長的溫度選項，可以達到+150度。在實驗室工作臺上操作qpod比色皿支架或將其構建到您自己的全光譜系統中。對于計算機控制，添加程序T-App或使用簡單的文本命令編寫自己的程序來控制TC 1溫度控制器。

?qpod/MPKIT 可控溫度比色皿支架產品特點：
帶有四個端口的樣品艙，用于安裝光學器件
快速、精確的控制帕爾貼溫度控制
用于吸光度測量的透鏡包
熒光測量用透鏡組件
球面鏡，用于增強激發或發射光
用于控制光強度的光學狹縫
變速磁力攪拌
整個光學室的干氣吹掃
樣本溫度的溫度計探針輸入
NIST可追溯溫度校準

?qpod/MPKIT 可控溫度比色皿支架技術規范：
控制的比色皿數量：1
典型用途：熒光
標準試管尺寸（外部）：12.5 mm x 12.5 mm
每個比色皿的光學端口：4個
光學端口尺寸：圓形直徑10mm
內置光學狹縫支架：每個試管4個，準直透鏡直徑6mm，焦距18mm
準直透鏡：直徑6毫米，焦距18毫米
成像透鏡對：每個直徑12毫米，焦距30毫米
標準透鏡材料：寬帶AR涂層熔融二氧化硅
前表面球面鏡：半徑30 mm
標準鏡面：紫外線增強鋁標準光纖連接器SMA 905
正常出廠設定溫度范圍：-40°C至+105°C
擴展的出廠設定溫度范圍：-55°C至+150°C
可實現的擴展溫度范圍：-45°C至+150°C
溫度精度：±0.02°C
溫度精度：從0開始±0.15°C?C至+80?C
溫度再現性：優于±0.07°C
接受熱敏電阻探頭：400系列或500系列
磁力攪拌電機類型：步進電機