代理Scionix Holland 76B76/3M-HV-E2閃爍體探測器
Scionix Holland閃爍器是將電離輻射損失的能量轉換為光脈沖的材料。在大多數閃爍計數應用中,電離輻射的形式是X射線、X射線和A粒子或X粒子,其能量從幾千電子伏到數百萬電子伏不等。
Scionix Holland BV是一家專業設計和制造基于閃爍原理的核輻射檢測儀器的公司。該公司成立于1992年。
除了廣泛的標準閃爍探測器之外,我們還為終端用戶提供了大量的定制閃爍探測器。所有已知和普遍可用的閃爍材料從塑料閃爍體和液體閃爍體到無機晶體,如NAI(TL)、集成電路(TL)、高密度Bgo和高分辨率CEbr3晶體。
Scionix閃爍材料中的相互作用
電磁輻射可以通過1。光電效應,2。康普頓效應或3。成對產生。效應3僅在1.02 MeV以上的能量上發生。實際上,所有效果都有發生的機會,這種機會與吸收劑(閃爍材料)的輻射能量和原子數(Z值)成正比。
在光電效果中,輻射的所有能量都轉化為光。當確定撞擊X射線或伽馬射線光子的實際能量時,此效果很重要。能量越低,Z值越高,照片效應的機會就越大。
在實際應用中,幾個交互過程起著作用。
圖2.1顯示了一個典型的脈沖高度光譜,該光譜是通過直徑為76 mm的76 mm高NAI(TL)晶體測量的,其中檢測到137CS源發出的輻射。指示Photopopeak,Compton最大值和反向散射峰。大約30 keV的線是源X射線也由源發出的。
閃爍器的總檢測效率(計數效率)取決于閃爍材料的大小,厚度和密度。但是,對于例如γ射線光譜的重要性,光峰計數效率是閃爍體的Z4-5的強大功能,并且增加了。在低于100 KEV的能量下,電磁相互作用由光電效應主導。
電子(例如β顆粒)可以反向散射從一種暗示在交互過程中不會損失能量的材料,根本沒有檢測到粒子。反向散射部分與材料的Z成正比。對于NAI(TL),反向散射分數可以高達30%。這意味著,為了有效檢測電子,首選諸如塑料閃爍體或EG?CAF2:EU或YAP:CE等低Z材料。窗戶材料也很重要。