Suns-voc MX是一款適用于漿料燒結(jié)工藝優(yōu)化和控制的理想測試平臺。開路法的測試結(jié)果指明了擴散工藝之后任何電池半成品的性能上限。

Suns-voc MX測試臺可作為WcT120壽命測試儀的附件,也可作為獨立的測試系統(tǒng)購買

Suns-voc MX應(yīng)用

可以通過直接探測p+和n+區(qū)域,或探測金屬化層(如果有)來測量光照強度-開路電壓曲線。該曲線可顯示成我們熟知的suns-Vo曲線,或以標準光伏曲線的形式呈現(xiàn),可以借此對并聯(lián)電阻進行表征。整條曲緯數(shù)據(jù)是在開路條件下測量獲得,因此不受串聯(lián)電阻的影響。將該曲線與最終的I-V曲線進行比較,可以準確獲得電池中的串聯(lián)電阻。

Suns-voc MX系統(tǒng)特征

• 樣品臺溫度控制在25°C
• 針管式電壓探
• 包含升級的3種配置的磁性探針
• 氙氣閃光燈,并配有中性密度濾光片
• 可通過調(diào)節(jié)支柱高度,對光照范圍進行微調(diào)
• 顯示標準I-V曲線和 Suns-voc曲線
• 測量硅片不受串聯(lián)電阻的影響時的理想特性、有效壽命特征曲線,和襯底摻雜
• 選配訂制的IBC樣品臺