UV LED測量需要一個為LED供電的電源和一個光學測量設(shè)備(光電二極管、光譜儀等)。)來測量光線。Vektrex生產(chǎn)各種精密脈沖源/測量單元(smu ),可用于為測量用UV LEDs供電。
Vektrex SMUs產(chǎn)生微秒級的短電流脈沖。短脈沖減少了測量過程中LED的發(fā)熱，從而產(chǎn)生更精確的測量結(jié)果。例如，下圖顯示了UV-C LED的峰值波長如何隨電流變化。如果用類似DC的長脈沖來測量這個LED，峰值波長似乎隨著電流而增加。但是從短脈沖測試來看，實際的特征是下降的趨勢。
UV-LED測量的SMU關(guān)鍵特性
- 快速脈沖有助于更好的測量(建議10微秒)
- 針對DCP測量進行了優(yōu)化，減少了后處理數(shù)學
- 與您最喜歡的測光設(shè)備配對的組件
- 作為完整的UV-LED測量系統(tǒng)提供
如何為紫外發(fā)光二極管供電進行測量
Vektrex脈沖SMUs滿足使用短脈沖測試UV-A、UV-B和UV-C led的要求。事實上，Vektrex SMU在研究中得到了廣泛的應用，這導致了ANSI/IES UV-LED測量標準LM-92-22的發(fā)展。LM-92-22規(guī)定了10秒和20秒的脈沖，以及一種稱為差分連續(xù)脈沖.
要為您的設(shè)備供電，請使用隨附的力/感測電纜連接SpikeSafe SMU。然后使用Vektrex開發(fā)的控制面板軟件應用程序來連接、配置和控制SMU。定義脈沖電流模式、脈沖參數(shù)和數(shù)字化儀設(shè)置。LED的正向電壓由SMU的智能數(shù)字化儀測量，該數(shù)字化儀可自動將測量值與電流脈沖對齊。觸發(fā)輸入和觸發(fā)輸出信號可用于使電流脈沖與外部儀器同步以捕捉光線。目視驗證您的UV-LED測量。
Vektrex提供python例程來加速您的定制軟件開發(fā)。
UV-LED測量系統(tǒng)
如果您需要的不僅僅是一個電源，Vektrex可以提供一個完整的UV-LED測量系統(tǒng)，包括PTFE球體、光譜輻射計、SMU、軟件、電纜和支持UV-C測量所需的附件。
Vektrex SMU使我們與眾不同的特性
從1 s到DC的干凈、低抖動脈沖
真差分數(shù)字化儀自動將測量值與脈沖對齊
10V以上的電壓–高達180V
電流高達60A
低或高占空比操作，0-100%
高平均輸出功率，> 500W
短脈沖LED測量研究
要了解更多短脈沖測試背后的科學知識，這里有一些有用的參考資料:
短脈沖有助于更好的測量:Jeff Hulett撰寫的這篇文章解釋了為什么短脈沖將實現(xiàn)更精確的光學測量。
簡化短脈沖測試實施:Jeff Hulett在《led》雜志上發(fā)表文章，解釋了一種新的短脈沖測試方法如何在led的電光測量中使用先進的光譜儀和源/測量儀器功能。
使用快速精確脈沖SMU表征LED壓降:LED產(chǎn)品通常采用增加器件發(fā)熱的方法來表征。這些使用DC電流、長脈沖或階梯掃描的過時方法會導致溫度下降。
紫外發(fā)光二極管晶閘管效應晶閘管效應是不成熟LED產(chǎn)品的一個已知缺點。查看成熟和不成熟設(shè)備的UV-LED測量差異。
標準化的UV-LED測量
實施UV-LED短脈沖測試的最佳方法記錄在ANSI/IES LM-92中。LM-92的方法解釋了如何使用DCP之類的技術(shù)來克服紫外線部件帶來的熱、光和電方面的挑戰(zhàn)。標準化測量確保您的測量結(jié)果與其他實驗室的測量結(jié)果一致。他們還提供了權(quán)威的證據(jù)證明你的產(chǎn)品將提供廣告的力量，提供有效的殺菌消毒。
要了解有關(guān)標準化UV-LED測量的更多信息，請參考:
GUV輻射源的光學計量和文件標準:閱讀《紫外線解決方案》雜志上由杰夫·胡萊特、卡梅隆·米勒()和宗()撰寫的文章全文。
IUVA NIST和Vektrex合作生產(chǎn)LM-92紫外LED測試標準:Jeff Hulett、Cameron Miller和Troy Cowan詳細介紹了跨組織參與UV標準制定的重要性，以及這些努力將如何進一步推動GUV設(shè)備的市場滲透和性能。
LM-80-21版本改進了測試方法:LM-80-21改進了可見光LED設(shè)備的測試方法，并解決了新型設(shè)備的適用性問題，包括紫外LED、激光二極管和燈絲LED
發(fā)光二極管和激光二極管精確光學測量的平均微分連續(xù)脈沖法:關(guān)于led和激光二極管精確光學測量方法的NIST出版物。
紫外測量需要考慮的因素:led雜志網(wǎng)絡研討會，介紹Intertek和Vektrex。
DCP測量的實際實施和應用:新的差分連續(xù)脈沖(DCP)測量方法是一種強大的工具，可以加速和簡化具有挑戰(zhàn)性的LED和激光光學測量。
