fae,光學測微儀, 2D光學測微儀,RF651,RF656,RF656XY,HL-C1,HL-G1

fae,光學測微儀, 2D光學測微儀,RF651,RF656,RF656XY,HL-C1,HL-G1

光學測微儀采用“陰影”測量原理,其中聚焦的激光光線被傳送到接收器。物體在光束路徑中產生的陰影的邊緣由接收器單元內的探測器陣列準確測量。光學測微儀是非接觸式設備,理想情況下可測量線、棒等圓柱體的直徑,以及間隙、邊緣位置和幾何對象的尺寸特征。

該系列包括兩個型號線:

RF651 — 直通式光學測微儀;

RF656 — 配備遠心鏡頭的高精度直通式光學測微儀;

RF656XY — 高精度二軸光學測微儀。

RF651 系列

? 直通式光學測微儀

? 發(fā)射器和接收器之間的距離較遠

測量范圍,毫米:………….25、50、75、100

精度,微米:…………………………………± 5…20

最大掃描頻率,赫茲:………..2000

RF656 系列

? 配備遠心鏡頭的高精度光學測微儀

測量范圍,毫米:………..5、10、25、50、75、100

精度,微米:……………………………………….± 0.3…5

最大掃描頻率,赫茲:……..2000、10000

光學測微儀 RF65x. 規(guī)格

RF65x-RF651-25RF651-50RF651-75RF651-100RF656-5RF656-10RF656-25RF656-50RF656-75RF656-100
量程255075100±1х5±3х10±5х25±7×50±9×75±10×100
物體的最小尺寸,毫米0,511,520,05(0,1)0,1(0,2)0,25(0,5)0,5(1)0,75(1,5)1(2)
精度* , um±5±10±15±20±0,3±0,5±1±2±3±5
測量頻率,赫茲50050050050050020002000200020002000
光源LED
激光安全等級1 (IEC60825-1)
同步輸入2,4 – 5 V (CMOS, TTL)
邏輯輸出three outputs, NPN: 100 mA max; 40 V max
電源V24 (9…36)
?功率W1,5…2
外殼材料
重量 (不含電纜), gram600200026004000700700700160032004500
輸出接口數(shù)字RS232 (max. 921,6 kbit/s) or RS485 (max. 921,6 kbit/s)?or Ethernet & (RS32 or RS485)
模擬

RF656XY 系列

? 高精度雙軸光學測微儀

測量范圍,毫米:…………….5、10、25、50、75、100

精度,微米:……………………………………………± 0.3…5

最大掃描頻率,赫茲:…………2000、10000

光學測微儀 RF65xy. 規(guī)格

RF65xyRF656xy-5RF656xy-10RF656xy-25RF656xy-50RF656xy-75RF656xy-100
量程, mm±1х5±3х10±5х25±7×50±9×75±10×100
最小尺寸, mm0,05(0,1)0,1(0,2)0,25(0,5)0,5(1)0,75(1,5)1(2)
精度* , um±0,3±0,5±1±2±3±5
測量頻率, Hz50020002000200020002000
光源LED
激光安全等級1 (IEC60825-1)
同步輸入2,4 – 5 V (CMOS, TTL)
邏輯輸出three outputs, NPN: 100 mA max; 40 V max
電壓, V24 (9…36)
功率, W1,5…2
外殼材質aluminum
重量 (不含電纜), gram15001300260069001050013500
輸出接口數(shù)字RS485 (max. 921,6 kbit/s)?or Ethernet & RS485
4…20 mA (load ≤ 500 Ohm) or 0…10 V
模擬

RF651型號操作原理

該測微計的操作基于所謂的“陰影”原理。該測微計由兩個模塊組成 — 發(fā)射器1和接收器2。 LED 3的輻射通過透鏡4進行準直。當放置在準直光束區(qū)域內的物體5時,形成的陰影圖像被CCD光電探測器陣列6掃描。處理器7根據(jù)陰影邊界(s)的位置計算物體的位置(大小)

RF656型號操作原理

該測微計的操作基于所謂的“陰影”原理。該測微計由兩個模塊組成 — 發(fā)射器1和接收器2。紅色LED 3的輻射通過透鏡4進行準直。當放置在準直光束區(qū)域內的物體5時,通過遠心透鏡6形成的陰影圖像被CCD光電探測器陣列7掃描。處理器8根據(jù)陰影邊界(s)的位置計算物體的位置(大小)。

 2D Optical Micrometers

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