使用基于X射線輻射的測量設(shè)備提供了非接觸測定層厚度、密度、每個(gè)區(qū)域的重量或材料組成。在大多數(shù)情況下，可以使用低能量的X射線源。
通常情況下，X射線輻射僅限于測量路徑本身，因此設(shè)備輻射外難以檢測到。如果需要生產(chǎn)設(shè)備的維護(hù)，測量將被關(guān)閉，然后不會(huì)出現(xiàn)輻射。材料性能不受輻射的影響或改變。
X射線測量裝置的典型應(yīng)用是：

• 散裝材料組成的測定
• 泥漿或懸浮液成分的測定
• 挖掘
• 可選性監(jiān)測
• 鉆孔探測
• 鉆孔巖屑分析儀
• 粒度分析
• 層厚測量
• 測量材料厚度（鋼帶、紙張等）
• 泥漿密度的測定
• 圖像分析（剝離、孔洞等）該圖顯示了涂層鋼帶的每區(qū)質(zhì)量

?在線元素分析：
TEXAS
◾散裝材料
◾X射線熒光
◾沒有采樣要求
FLORIDA
◾懸浮液和溶液
◾X射線熒光
◾沒有采樣要求
·圖像分析：
OSLO
對生產(chǎn)質(zhì)量控制
◾光學(xué)測量和評(píng)估
PANAMA
◾對散裝材料的粒徑分布帶分析
◾光學(xué)評(píng)價(jià)
?地質(zhì)與勘探：
IBERIA
◾鉆孔探測
◾元素分析
◾X射線熒光
INDIANA
鉆孔德比斯
◾分析
◾元素分析
◾X射線熒光
?采礦和準(zhǔn)備：
OREGON
◾可選性監(jiān)測
◾無化學(xué)品的需求
◾結(jié)合光學(xué)和輻射測量
◾適合礦典型的密度范圍（煤…鐵礦石）