TME Solution-C-BC Non Destructive Blister Card Leak Test System側(cè)漏儀

該TME Solution -C-BC吸卡測試系統(tǒng)產(chǎn)生非破壞性,壓力或吸塑卡真空衰減泄漏檢測的定量結(jié)果。該測試儀提供高分辨率的所有功能,技術(shù)先進的TME Solution -C測試儀,以及定制的測試室,滿足您的特定產(chǎn)品。可互換的夾具插入可被提供以適應(yīng)各種尺寸和形狀的,和內(nèi)置一個總檢漏儀檢測開或破裂的密封件。
參數(shù):
尺寸:8.5” 寬 x 16” 深 x 10” 高
電源:美國 :110/220V , 50/60Hz @ 2.5Amps
歐洲:230V, 50-60 Hz @ 1.25Amps
存儲和操作環(huán)境: 5-40℃,(40-100°F)
相對濕度<80%,非冷凝。 控制:按鈕,觸控板,鍵盤鎖,電源ON / OFF開關(guān) 測試通道: 1 測試模式:壓力或真空,單一或差分 單項測試:泄漏,流量 雙測試:泄漏/流量,流量/泄漏 顯示:背光彩色液晶顯示屏,40字符×16行,字母數(shù)字/圖形 單位: PSI,kPa,mbar等 記錄存儲器:多達5000測試結(jié)果 程序存儲器.:多達100個可連接程序 統(tǒng)計:均值和極差控制圖,直方圖,標(biāo)準(zhǔn)偏差,平均值,最小值/最 大值,UCL和LCL 手動輸出:測試設(shè)定參數(shù),當(dāng)前結(jié)果,數(shù)據(jù)記錄和按需統(tǒng)計 自動輸出:目前的測試結(jié)果到預(yù)先設(shè)定的打印機 輔助輸出:24V光電隔離PLC接口 單個和多端口配置 通訊端口:RS232接口程序的輸入/輸出數(shù)據(jù) 校準(zhǔn):NIST溯源 定時范圍:1至1000秒。 清潔:帶有玻璃清洗劑的濕軟布,如Windex?