ZENITH 共焦測量系統(tǒng)控制器

Zenith 控制器是用于非接觸式共聚焦測量的下一代解決方案。與共焦筆配合使用，Zenith 控制器可以在激光難以承受的表面上進(jìn)行無與倫比的精度測量。根據(jù)所選的共聚焦筆，Zenith 控制器可以進(jìn)行誤差低至 +/- 35 納米的測量。新的雙通道版本可以支持兩個(gè)筆，用于同步、同步測量，非常適合厚度應(yīng)用。

用于測量所有材料的位移、距離、位置和厚度的共焦傳感器

共聚焦位移傳感器滿足最苛刻的尺寸、厚度或粗糙度測量應(yīng)用的要求。這些傳感器可以測量任何類型的樣品（透明、不透明、拋光或粗糙）和任何類型的材料（金屬、玻璃、陶瓷、半導(dǎo)體、塑料）。

主要作用：

• 系統(tǒng)控制與數(shù)據(jù)處理： 控制系統(tǒng)的各個(gè)部件，如光源、掃描系統(tǒng)、探測器等，并進(jìn)行數(shù)據(jù)采集與處理。
• 實(shí)時(shí)監(jiān)測與校準(zhǔn)： 實(shí)時(shí)監(jiān)測測量過程中的各種參數(shù)，并進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)以確保測量精度和穩(wěn)定性。
• 接口與通信： 提供與計(jì)算機(jī)或其他控制系統(tǒng)的接口，方便用戶通過軟件界面進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)分析。

這種控制器通常用于高精度工業(yè)測量、材料科學(xué)研究、生物醫(yī)學(xué)成像等領(lǐng)域。