ZENITH 共焦測量系統控制器
Zenith 控制器是用于非接觸式共聚焦測量的下一代解決方案。與共焦筆配合使用，Zenith 控制器可以在激光難以承受的表面上進行無與倫比的精度測量。根據所選的共聚焦筆，Zenith 控制器可以進行誤差低至 +/- 35 納米的測量。新的雙通道版本可以支持兩個筆，用于同步、同步測量，非常適合厚度應用。
用于測量所有材料的位移、距離、位置和厚度的共焦傳感器
共聚焦位移傳感器滿足最苛刻的尺寸、厚度或粗糙度測量應用的要求。這些傳感器可以測量任何類型的樣品（透明、不透明、拋光或粗糙）和任何類型的材料（金屬、玻璃、陶瓷、半導體、塑料）。
主要作用：
- 系統控制與數據處理： 控制系統的各個部件，如光源、掃描系統、探測器等，并進行數據采集與處理。
- 實時監測與校準： 實時監測測量過程中的各種參數，并進行系統校準以確保測量精度和穩定性。
- 接口與通信： 提供與計算機或其他控制系統的接口，方便用戶通過軟件界面進行控制和數據分析。
這種控制器通常用于高精度工業測量、材料科學研究、生物醫學成像等領域。
