IF-Profiler 光學表面光度儀
Optical profilometer for roughness measurement用于粗糙度測量的光學輪廓儀
Optical profilometer for profile based and areal based roughness measurements
用于基于輪廓和基于面的粗糙度測量的光學表面光度儀
IF-Profiler是一個手持式3D粗糙度測量系統，用于高分辨率測量表面光潔度。用戶可以使用同一系統測量平坦和曲面組件的粗糙度。測量既可以基于輪廓（ISO 4287）進行，也可以基于面積（ISO 25178）進行。
輕巧的IF-Profiler由一個3D測量傳感器和一個堅固而方便攜帶的框架組成。符合人體工程學設計既簡單易用又具有必要的機械剛度。在最短的三秒測量時間內實現可追溯和可重復的測量。
技術規格：
| 測量原理 | 非接觸、光學、三維、基于焦距變化 |
| 定位體積(Z) | 25毫米(Mot) |
| 物鏡放大率 | x10 | x20 | x50 | |||||||
| 焦點距離 | 毫米 | 17.5 | 16 | 10.1 | ||||||
| 橫向測量范圍(X，Y) | 毫米 | 2 | 1 | 0.4 | ||||||
| (X x Y) | 毫米 | 4 | 1 | 0.16 | ||||||
| 垂直分解度 | 納米 | 100 | 50 | 20 | ||||||
| 量滴可測粗糙度(Ra) | m | 0.3 | 0.24 | 0.18 | ||||||
| 量滴可測粗糙度(Sa) | m | 0.15 | 0.12 | 0.9 |
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