μCMM

Optical coordinate measuring machine to measure tight tolerances

測量精密公差的光學(xué)坐標(biāo)測量機(jī)

光學(xué)坐標(biāo)測量機(jī)(CMM ),以最高精度測量大型部件上的小表面細(xì)節(jié)

CMM是第一臺純光學(xué)坐標(biāo)測量機(jī)，用于高精度測量極其精密的公差。用戶結(jié)合了觸覺坐標(biāo)測量技術(shù)和光學(xué)表面計量的優(yōu)勢:

• 僅用一個傳感器測量尺寸、位置、形狀和粗糙度
• 整個測量范圍內(nèi)的高精度
• 具有焦距變化的非接觸光學(xué)坐標(biāo)測量
• 適用于啞光到高度拋光的部件
• 易于操作
• 無磨損，堅固耐用，適合生產(chǎn)

光學(xué)測量機(jī)提供多個光學(xué)3D測量值之間的高幾何精度，能夠測量大型部件上的小表面細(xì)節(jié)，并精確確定這些單獨(dú)測量值之間的相對位置。可測量表面的范圍包括所有常見的工業(yè)材料和復(fù)合材料，如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、鉻、硅。

簡單的操作通過單按鈕解決方案、自動化和人體工程學(xué)控制元素(如專門設(shè)計的控制器)來實(shí)現(xiàn)。線性驅(qū)動的空氣軸承軸可實(shí)現(xiàn)無磨損使用和高精度、快速測量。這使得μCMM成為永久使用的理想坐標(biāo)測量系統(tǒng)，在生產(chǎn)中也是如此。