Beam Imaging HRBIS高分辨率光束成像系統

Beam Imaging HRBIS高分辨率光束成像系統使高分辨率光束成像成為可能。HRBIS可用于測量離子、電子和中性束的二維或三維強度分布。HRBIS還可用于成像X射線，用于針孔成像和光譜學等應用。

產品概述

光束成像解決方案HRBIS系統使高分辨率光束成像成為可能。HRBIS可用于測量離子、電子和中性束的二維或三維強度分布。HRBIS還可用于成像X射線，用于針孔成像和光譜學等應用。

使用微通道板(MCP)和熒光屏組合來創建圖像。磷光體均勻地沉積在相干光纖(FO)襯底上，使得圖像可以光學地傳輸到真空系統的外部用于分析。使用一系列FO導管將圖像相干地傳輸到真空觀察口，在該真空觀察口可以用肉眼觀察圖像，或者用CID或CCD照相機系統記錄和處理圖像。HRBIS系統有多種不同的配置，最適合客戶的特定應用和預算。

HRBIS-11000型高分辨率光束成像系統如下所示。右圖顯示了HRBIS的標準相機適配器環。該環有螺紋孔，用于連接攝像機安裝系統，可用于所有可選的攝像機系統。

HRBIS-11000型高分辨率光束成像系統如下所示。右圖顯示了HRBIS的標準相機適配器環。該環有螺紋孔，用于連接攝像機安裝系統，可用于所有可選的攝像機系統。