貝瑞克補償器（Berek Compensators）
產品概述
貝瑞克補償器是一種通過改變入射角度來調節光程差和軸向取向的可變延遲器，可作為可調波片使用，也可用于延遲片的特性分析。我們的緊湊型aXiscope測試裝置無需額外設備即可直觀測定任意波片的慢軸方向和級數。
aXiscope視覺檢測裝置
aXiscope是一款用于檢測延遲片的可視化測試設備，其核心是在交叉片狀偏振片之間安裝了一個貝瑞克補償器。該設備通過環境光照下的近距離觀察使用，利用視場內的視角變化實現調節（無移動部件）。觀察時會看到一個具有對稱暗十字的特征彩色圖案：
- 中心最小值點指示零雙折射位置
- 插入待測延遲片會使最小值點外移至視場中與補償器光程差大小相等、符號相反的位置
- 由于方解石具有負雙折射性，連接這兩個暗點的直線即指示被測延遲片的慢軸方向
- 兩點間距可用于估算延遲片的光程差量值
技術規格
| 型號 | 環形支架貝瑞克補償器 | aXiscope測試裝置 |
|---|---|---|
| 訂貨號 | RKB 15.12 | RKB 15.12FL |
| 材質 | 方解石 | 方解石 |
| 光譜范圍 | 400-2200 nm | 400-2200 nm |
| 晶體厚度 | 1.5 mm | 1.5 mm |
| 通光孔徑 | 12 mm | 12 mm |
| 鏡座直徑 | 25 mm | 35 mm |
| 鏡座長度 | 10 mm | 61 mm |
工作原理
補償器由單軸晶體的平面平行板構成，晶體軸垂直于拋光表面：
- 正入射時無雙折射現象
- 傾斜表面法線與光束方向的夾角會產生延遲，且隨傾斜角增大而增加
- 軸向由傾斜方向決定
