應用
- 監控和安全
- 用于分揀的缺陷識別
- 機器視覺成像 – 減少眩光
- NIR 傳感器 – 光學、固態
- 多光譜成像
- 農業檢驗
- NIR 偏振顯微鏡
- NIR 相機, 攝影
- NIR 半導體檢測
- NIR 拉曼偏振光譜
- NIR 天文學
- NIR 熱成像
組件規格
外部維度 25.4mm 外徑 ± 0.20mm 波前畸變 Lambda/2 測量 @ 632nm 厚度 4.5 毫米,± 0.20 毫米 基質 BK-7 系列 表面質量 40/20 劃痕 光束偏差 2 弧分 減反射涂層 R ≤ 0.65% / 表面,平均值。400nm-900nm
R ≤ 0.65% / 表面,平均。700nm-1,100nm
R ≤ 0.65% / 表面,平均值。900 納米至 1,700 納米環境耐受性 -10°C 至 60°C