薄膜測(cè)量分析

BRIMROSE 高速 AOTF-NIR 薄膜分析儀以極高的精度在線執(zhí)行實(shí)驗(yàn)室任務(wù)。為了優(yōu)化生產(chǎn)過程，該儀器可以放置在對(duì)薄膜或涂層進(jìn)行精確分析監(jiān)測(cè)很重要的生產(chǎn)線中。該儀器可用于在線規(guī)格驗(yàn)證，薄膜或紙上單層或多層涂層的涂層厚度測(cè)量，分析和評(píng)估涂層或薄膜的化學(xué)成分，監(jiān)測(cè)殘留溶劑，固化時(shí)間等。

AOTF-NIR 薄膜分析儀對(duì)環(huán)境光完全不敏感，不受振動(dòng)、灰塵和污垢的影響，設(shè)計(jì)用于在生產(chǎn)環(huán)境中可靠工作且無需維護(hù)。一種新穎的光學(xué)設(shè)計(jì)使薄膜或涂層的測(cè)量成為質(zhì)量控制和減少浪費(fèi)的一種經(jīng)濟(jì)有效的方法。

Brimrose AOTF-NIR 光譜儀的優(yōu)勢(shì)：

?非接觸式固態(tài)傳感器采用緊湊、堅(jiān)固的設(shè)計(jì)，為要求嚴(yán)苛的工業(yè)用途提供快速全光譜掃描
?安裝在鋼絲圈上并在網(wǎng)上掃描或可用于統(tǒng)計(jì)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量
?與主工廠 PLC 或 DCS 連接以進(jìn)行即時(shí)和/或自動(dòng)過程調(diào)整
?大量節(jié)省實(shí)驗(yàn)室分析

Brimrose Luminar 4020 薄膜分析儀永久安裝在自動(dòng)導(dǎo)軌上，用于整個(gè)網(wǎng)絡(luò)的薄膜和涂層厚度分析。