薄膜測量分析

BRIMROSE 高速 AOTF-NIR 薄膜分析儀以極高的精度在線執(zhí)行實驗室任務(wù)。為了優(yōu)化生產(chǎn)過程，該儀器可以放置在對薄膜或涂層進行精確分析監(jiān)測很重要的生產(chǎn)線中。該儀器可用于在線規(guī)格驗證，薄膜或紙上單層或多層涂層的涂層厚度測量，分析和評估涂層或薄膜的化學(xué)成分，監(jiān)測殘留溶劑，固化時間等。

AOTF-NIR 薄膜分析儀對環(huán)境光完全不敏感，不受振動、灰塵和污垢的影響，設(shè)計用于在生產(chǎn)環(huán)境中可靠工作且無需維護。一種新穎的光學(xué)設(shè)計使薄膜或涂層的測量成為質(zhì)量控制和減少浪費的一種經(jīng)濟有效的方法。

Brimrose AOTF-NIR 光譜儀的優(yōu)勢：

?非接觸式固態(tài)傳感器采用緊湊、堅固的設(shè)計，為要求嚴苛的工業(yè)用途提供快速全光譜掃描
?安裝在鋼絲圈上并在網(wǎng)上掃描或可用于統(tǒng)計現(xiàn)場測量
?與主工廠 PLC 或 DCS 連接以進行即時和/或自動過程調(diào)整
?大量節(jié)省實驗室分析

Brimrose Luminar 4020 薄膜分析儀永久安裝在自動導(dǎo)軌上，用于整個網(wǎng)絡(luò)的薄膜和涂層厚度分析。