Luminar 3070 實驗室 AOTF-NIR 光譜儀
薄膜或涂層的在線測量
Luminar 4020 AOTF-NIR 薄膜光譜儀旨在單獨測量多層薄膜，無需測量基材厚度以獲得準確的涂層重量。這種高速在線分析儀可以定期測量粘合劑和殘留溶劑的涂層重量，該分析儀可以安裝在鋼絲圈上并掃描整個卷材，也可以靜態(tài)測量。
Brimrose Luminar 系統(tǒng)是非接觸式固態(tài)傳感器，具有緊湊、堅固的設計，可為苛刻的工業(yè)用途提供快速的全光譜掃描。集成的 Luminar 4020 對環(huán)境光完全不敏感，不受振動、灰塵和污垢的影響，這簡化了生產(chǎn)環(huán)境中的安裝要求。光學設計消除了干涉條紋，現(xiàn)在可以使用此在線光譜儀測量薄膜。
技術規(guī)格：
| 光譜范圍選項 | 600-1100 納米、850-1700 納米、900-1800 納米、1100-2300 納米 |
| 測量模式 | 傳播 |
| 光譜分辨率 | 2-10納米 |
| 波長精度 | ± 0.5 納米 |
| 波長重復性 | ± 0.01 納米 |
| 波長增量 | 軟件可選 1-10 nm |
| 環(huán)境光抑制 | > 10?6 |
| 非線性 | 0.1% |
| 信號數(shù)字化 | 16 位 A/D（65,536 分之一） |
| 采樣速度 | 16,000 波長/秒 |
| 采樣區(qū) | ?10 毫米 |
| 工作距離 | 6 mm ± 0.5 mm（從反射面到窗緣） |
| 診斷 | 10個內(nèi)置監(jiān)控傳感器 |
| 厚度范圍 | 典型 0-15 μm（標準）；（超過 15 μm 可以使用型號 4030 和 7030） |
| 允許的片材顫振 | ±5 毫米和 ±2 度 |
| 電源要求 | 24 VDC，80 瓦或 100-240 VAC，50/60 Hz，90 瓦 |
| 冷卻選項 | 風扇冷卻，渦流冷卻 |
| 溝通 | 無線、OPC UA、Modbus（串行或 TCP）、4-20mA 的 I/O、TCP/IP 以太網(wǎng) |
| 外殼（寬 x 高 x 深） | 275 毫米 x 372 毫米 x 157.50 毫米 |
