薄膜測量分析

BRIMROSE 高速 AOTF-NIR 薄膜分析儀以極高的精度在線執行實驗室任務。為了優化生產過程，該儀器可以放置在對薄膜或涂層進行精確分析監測很重要的生產線中。該儀器可用于在線規格驗證，薄膜或紙上單層或多層涂層的涂層厚度測量，分析和評估涂層或薄膜的化學成分，監測殘留溶劑，固化時間等。

AOTF-NIR 薄膜分析儀對環境光完全不敏感，不受振動、灰塵和污垢的影響，設計用于在生產環境中可靠工作且無需維護。一種新穎的光學設計使薄膜或涂層的測量成為質量控制和減少浪費的一種經濟有效的方法。

Brimrose AOTF-NIR 光譜儀的優勢：

?非接觸式固態傳感器采用緊湊、堅固的設計，為要求嚴苛的工業用途提供快速全光譜掃描
?安裝在鋼絲圈上并在網上掃描或可用于統計現場測量
?與主工廠 PLC 或 DCS 連接以進行即時和/或自動過程調整
?大量節省實驗室分析

Brimrose Luminar 4020 薄膜分析儀永久安裝在自動導軌上，用于整個網絡的薄膜和涂層厚度分析。