Luminar 3070 實驗室 AOTF-NIR 光譜儀
薄膜或涂層的在線測量
Luminar 4020 AOTF-NIR 薄膜光譜儀旨在單獨測量多層薄膜,無需測量基材厚度以獲得準(zhǔn)確的涂層重量。這種高速在線分析儀可以定期測量粘合劑和殘留溶劑的涂層重量,該分析儀可以安裝在鋼絲圈上并掃描整個卷材,也可以靜態(tài)測量。
Brimrose Luminar 系統(tǒng)是非接觸式固態(tài)傳感器,具有緊湊、堅固的設(shè)計,可為苛刻的工業(yè)用途提供快速的全光譜掃描。集成的 Luminar 4020 對環(huán)境光完全不敏感,不受振動、灰塵和污垢的影響,這簡化了生產(chǎn)環(huán)境中的安裝要求。光學(xué)設(shè)計消除了干涉條紋,現(xiàn)在可以使用此在線光譜儀測量薄膜。
技術(shù)規(guī)格:
光譜范圍選項 | 600-1100 納米、850-1700 納米、900-1800 納米、1100-2300 納米 |
測量模式 | 傳播 |
光譜分辨率 | 2-10納米 |
波長精度 | ± 0.5 納米 |
波長重復(fù)性 | ± 0.01 納米 |
波長增量 | 軟件可選 1-10 nm |
環(huán)境光抑制 | > 10?6 |
非線性 | 0.1% |
信號數(shù)字化 | 16 位 A/D(65,536 分之一) |
采樣速度 | 16,000 波長/秒 |
采樣區(qū) | ?10 毫米 |
工作距離 | 6 mm ± 0.5 mm(從反射面到窗緣) |
診斷 | 10個內(nèi)置監(jiān)控傳感器 |
厚度范圍 | 典型 0-15 μm(標(biāo)準(zhǔn));(超過 15 μm 可以使用型號 4030 和 7030) |
允許的片材顫振 | ±5 毫米和 ±2 度 |
電源要求 | 24 VDC,80 瓦或 100-240 VAC,50/60 Hz,90 瓦 |
冷卻選項 | 風(fēng)扇冷卻,渦流冷卻 |
溝通 | 無線、OPC UA、Modbus(串行或 TCP)、4-20mA 的 I/O、TCP/IP 以太網(wǎng) |
外殼(寬 x 高 x 深) | 275 毫米 x 372 毫米 x 157.50 毫米 |