BSI硅離子注入阿爾法探測(cè)器

硅離子注入阿爾法探測(cè)器可以實(shí)現(xiàn)精確的阿爾法粒子光譜。探測(cè)器的薄入射窗即使在α放射源的附近也提供了良好的能量分辨率,并且還提供了α粒子的高效配準(zhǔn)。

應(yīng)用

硅離子注入阿爾法探測(cè)器設(shè)計(jì)用于實(shí)現(xiàn)精確的阿爾法光譜。探測(cè)器的薄入射窗提供了良好的能量分辨率,即使在α放射源附近也提供了α粒子的高效配準(zhǔn)。

功能

  • 由于P-N結(jié)在探測(cè)器晶體內(nèi)部的位置,探測(cè)器可以在不加熱的情況下運(yùn)行
  • 使用離子注入方法形成接觸,并提供薄的、良好形成的結(jié)
  • 相對(duì)較薄的死層(小于500?)
  • 高堅(jiān)固性入口窗戶
  • 可以在真空中工作
  • 將探測(cè)器退火至100°C的可能性
  • 探測(cè)器可以封裝在不同類型的封裝中,帶有BNC或MICRODOT連接器或?qū)Ь€,以滿足不同客戶的需求
  • 探測(cè)器是用敞開(kāi)的窗戶或金屬化的窗戶生產(chǎn)的

離子注入硅阿爾法粒子探測(cè)器的特殊版本具有金屬化的入口窗口涂層,使探測(cè)器能夠監(jiān)測(cè)放射性氣溶膠。這是具有以下特征的探測(cè)器的特殊版本:

  • 允許探測(cè)器在環(huán)境光下運(yùn)行
  • 金屬涂層提供機(jī)械和化學(xué)保護(hù)。入口窗口厚度小于2μm
  • 可在+15至+24 V的偏置電壓下工作