BSI硅離子注入阿爾法探測器

硅離子注入阿爾法探測器可以實現精確的阿爾法粒子光譜。探測器的薄入射窗即使在α放射源的附近也提供了良好的能量分辨率,并且還提供了α粒子的高效配準。

應用

硅離子注入阿爾法探測器設計用于實現精確的阿爾法光譜。探測器的薄入射窗提供了良好的能量分辨率,即使在α放射源附近也提供了α粒子的高效配準。

功能

  • 由于P-N結在探測器晶體內部的位置,探測器可以在不加熱的情況下運行
  • 使用離子注入方法形成接觸,并提供薄的、良好形成的結
  • 相對較薄的死層(小于500?)
  • 高堅固性入口窗戶
  • 可以在真空中工作
  • 將探測器退火至100°C的可能性
  • 探測器可以封裝在不同類型的封裝中,帶有BNC或MICRODOT連接器或導線,以滿足不同客戶的需求
  • 探測器是用敞開的窗戶或金屬化的窗戶生產的

離子注入硅阿爾法粒子探測器的特殊版本具有金屬化的入口窗口涂層,使探測器能夠監測放射性氣溶膠。這是具有以下特征的探測器的特殊版本:

  • 允許探測器在環境光下運行
  • 金屬涂層提供機械和化學保護。入口窗口厚度小于2μm
  • 可在+15至+24 V的偏置電壓下工作