超主軸臺(tái) Cat.#7058

超主軸臺(tái)允許對(duì)晶體進(jìn)行測(cè)量和檢查。

Supper Spindle Stage允許完成幾個(gè)有用的測(cè)量：檢查已安裝在測(cè)角儀頭上的晶體的整體形狀；測(cè)量晶體形狀以校正 X 射線吸收；以及相對(duì)于先前取向的晶體的晶胞邊緣的晶體形態(tài)測(cè)量。

主軸臺(tái)由一個(gè)經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的水平旋轉(zhuǎn)軸組成，配備一個(gè)游標(biāo)，并且可以鎖定在所需的設(shè)置中。主軸將接受任何帶有標(biāo)準(zhǔn) IUC 螺紋的測(cè)角儀頭。除了測(cè)角儀頭提供的正交平移外，還可以提供最多 +- 1/8 英寸的垂直于和平行于平臺(tái)軸的平移。

主軸臺(tái)可以安裝在巖相顯微鏡的旋轉(zhuǎn)臺(tái)上，也可以放在雙目顯微鏡下。