韓國DAEIL SYSTEMS DVIA-T 系列臺(tái)式主動(dòng)隔振系統(tǒng) 臺(tái)式主動(dòng)隔振平臺(tái)

臺(tái)式主動(dòng)隔振系統(tǒng)

DVIA-T 系列 讓顯微成像變得前所未有的輕松

DVIA-T 是全球最先進(jìn)的臺(tái)式主動(dòng)隔振平臺(tái)，專為隔離納米級(jí)成像設(shè)備的低頻振動(dòng)而設(shè)計(jì)，可在 1 Hz 頻率下實(shí)現(xiàn)?40%-80%?的隔振效果。

特征

1.卓越的隔振性能

DVIA-T 開始隔離 0.5 Hz，在 1 Hz 時(shí)提供 40% – 80% 的隔振。

2.這很簡單。即插即用！

DVIA-T 只需要電力即可使用其主動(dòng)隔振系統(tǒng)。

It's Simple. Plug and Play!

3.緊湊、輕便、便攜的設(shè)計(jì)

最小的 DVIA-T 為 420 × 500 × 93 毫米，重量僅為 25 公斤，允許用戶手提和安裝在任何地方。

4.自動(dòng)調(diào)平到有效載荷重量

如果環(huán)境和位置發(fā)生變化或放置其他儀器，用戶只需按下自動(dòng)調(diào)平按鈕即可調(diào)整 DVIA-T 的級(jí)別。

5.無空氣

所有 DVIA-T 都需要電流才能運(yùn)行。

6.用戶 UI 軟件

我們?yōu)樘峁┱嬲郎p少地板振動(dòng)的隔振系統(tǒng)所做的工作感到自豪。UI 軟件與 DVIA-T 一起提供，供用戶實(shí)時(shí)監(jiān)控主動(dòng)隔振性能和地板振動(dòng)水平。

7.反饋和饋送控制算法

DVIA 系列使用反饋控制算法連續(xù)檢測干擾隔離表面的振動(dòng)，并立即做出反應(yīng)以實(shí)時(shí)減少振動(dòng)。DVIA 系列采用前饋控制算法，在地板振動(dòng)傳遞到安裝在主動(dòng)隔振系統(tǒng)上的設(shè)備之前，提前過濾掉地板振動(dòng)。

Feedback & Feedfoward <br />Control Algorithm

8.所有六個(gè)自由度的主動(dòng)隔振

DVIA 系列控制三個(gè)平移度（X、Y 和 Z）和三個(gè)旋轉(zhuǎn)度（俯仰、滾動(dòng)和偏航）的振動(dòng)。

DVIA-M-Absolute-Control-of-Vibrations-in-All-Six-Degrees-of-Freedom

性能

  • 在?1 Hz?頻率下可實(shí)現(xiàn)?40%～80% 的隔振效果
  • 在?≥2 Hz?頻率下隔振效果?≥90%

DVIA-T starts to isolate at 0.5 Hz

規(guī)格

型號(hào)DVIA-T45 系列DVIA-T56 系列DVIA-T67 系列DVIA-T78 系列
平臺(tái)尺寸（長 x 寬 x 高）420 x 500 x 93 毫米500 x 600 x 93 毫米600 x 700 x 95 毫米700 x 800 x 95 毫米
最大負(fù)載能力90 kg / 150 kg （可選）
驅(qū)動(dòng)器電磁執(zhí)行器
最大執(zhí)行器力垂直： 6 N， 水平： 3 N
自由度6 自由度
有源隔離范圍0.5 – 100 赫茲
1 Hz 時(shí)的隔振40% – 80%
≥2 Hz 時(shí)的隔振≥90%
輸入電壓 （V）AC100-240V / 50-60Hz / 1A
功耗 （W）小于 36 W
工作范圍溫度 （°C）5 – 50 °C
濕度 （%）20 – 90%

應(yīng)用

  1. 原子力顯微鏡 (Atomic Force Microscopy, AFM)
  2. 熒光顯微技術(shù) (Fluorescence Microscopy)
  3. 掃描探針顯微技術(shù) (Scanning Probe Microscopy, SPM)
  4. 三維光學(xué)顯微技術(shù) (3D Optical Microscopy)
  5. 納米級(jí)分辨率光學(xué)顯微技術(shù) (Optical Microscopy with Nanometer Resolution)
  6. 數(shù)字全息顯微技術(shù) (Digital Holographic Microscopy)
  7. 觸針輪廓測量術(shù) (Stylus Profilometry)
  8. 干涉測量技術(shù) (Interferometry)
  9. 表面粗糙度計(jì)量學(xué) (Surface Roughness Metrology)

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