德國Gigahertz Optik BTS2048-UV緊湊型光譜輻射計 紫外線測量

BTS2048-UV

使用這款高質量的緊湊型光譜輻射計進行紫外線測量

  • 高雜散光減少(BTS2048-UV-S 的縮小濾光片版本)
  • 超快速接口和電子快門
  • 高光學分辨率
  • 適用于各種測量任務(UV LED、氘燈、鎢燈到太陽輻射)
  • 高雜散光減少有助于將精確校準轉換為精確測量

概述:

紫外 CCD 光譜輻射儀與寬帶 CCD 光譜儀

傳統 CCD 探測器的光譜響應度通常在 200 nm 至 430 nm 范圍內。通常,CCD 探測器的這個寬光譜響應范圍被稱為光譜輻射計的響應范圍。然而,這沒有考慮色散光柵的光譜響應函數,這進一步降低了檢測器在紫外光譜中的響應度。這會導致 UV 測量信號出現重大誤差,主要是通過長波雜散光。寬帶光譜儀的光譜分辨率通常不足以保證精確測量窄帶 UV LED。

專為紫外輻射設計的 CCD 光譜儀具有有限的光譜范圍,并允許非常高的光柵效率和非常高的光譜分辨率。此外,濾光片還可用于顯著減少雜散光。


用于紫外線輻射的 BTS2048-UV CCD 分光輻射儀

BTS2048-UV 滿足高端紫外二極管陣列光譜儀的所有要求,盡管采用尖端技術,但價格極具吸引力。

BiTec 傳感器的一個獨特之處在于它結合了背照式 CCD 光譜儀和硅光電二極管,可提供高線性度,從而實現極快的測量。采用熱電冷卻的完全線性化 2048 像素 CCD 探測器的積分時間范圍為 2 μs 至 60 s,因此具有非常寬的動態范圍。這使得能夠在較寬的強度范圍內精確測量 UV LED。該設計在整個光譜測量范圍內提供了0.8納米的高光學分辨率,從190納米到430納米。光譜儀還配備了兩個用于自動低雜散光測量的濾光片對于存在其他光源的寬帶 UV 燈和 UV LED 來說,這種測量是必要的。BiTec 探測器內的極高線性度 SiC 光電二極管用于 CCD 的線性化或用作參考探測器。SiC 光電二極管的輻射響應功能使其能夠獨立于 CCD 使用。輻射精度可以使用相應的光譜數據進行自動校正。因此,該設備可用于對非常微弱的信號進行快速測量,這使得 BTS20418-UV 非常適合集成到測角儀中。盡管尺寸緊湊(103 mm x 107 mm x 52 mm – 長 x 寬 x 高),但 BTS2048-UV 光譜輻射儀有一個遙控濾光輪,帶有兩個濾光片和一個用于暗測量的快門。


精確光譜輻射測量(低雜散光)

為了便于最佳地使用 CCD 傳感器的動態范圍并克服大多數陣列光譜輻射計在 UV 范圍內的問題,在光束路徑中放置了一個遙控濾光片輪(開放式、閉合式、濾光片)。該濾光片與智能測量和雜散光校正程序相結合,可實現 BTS2048-UV 的高質量測量。

BTS2048-UV 針對其他 UV 源的一般測量進行了優化。Gigahertz-Optik 的雜散光校準技術與進一步的智能測量程序相結合,可實現卓越的雜散光抑制。可根據要求選擇校準 BTS2048-UV 附加雜散光校正矩陣。


絕對校準,絕對輻照度低至 200 nm!

多年的經驗和設備齊全的 DAkkS 校準實驗室 (D-K-15047-01-00) 使 Gigahertz-Optik 能夠提供低至 200 nm 的可追溯校準。這拓寬了 BTS2048-UV 和 UV-C-LED 的應用范圍。對于短波光譜范圍,Gigahertz-Optik GmbH 實施了一種特殊的基于氘燈的校準策略。


用于前端和后端 LED 測試測量

BTS2048-UV 非常適合在工業應用中測試 UV 前端和后端 LED。其 CCD 檢測器在觸發測量之前集成了所有像素的電子零點設置功能(電子快門)。當測試 LED 在脈沖電流模式下運行時,電子快門和測量觸發可以通過觸發端口與電源同步。強大的微處理器只需 7 ms 即可通過快速 LAN 接口將完整的數據集傳輸到系統計算機。


直接安裝,無需使用導光板

BTS2048-UV 光譜輻射儀具有擴散窗口,因此可用于測量紫外線輻照度,包括光譜和峰值波長,無需任何額外的附件組件。借助擴散窗口,BTS2048-UV 還可以直接安裝在積分球、輻射鏡和測角儀等附件上,以測量輻射功率、輻射度和輻射度分布。


用戶軟件和開發人員軟件

標準的?S-BTS2048?用戶軟件具有可定制的用戶界面,并提供大量的顯示和功能模塊,這些模塊可以在使用 Gigahertz-Optik GmbH 的相應附件組件配置 BTS2048-UV 時激活。S-SDK-BTS2048?開發軟件用于將 BTS2048-UV 集成到客戶自己的軟件中。


校準

光度測量設備的一個基本質量特征是其精確和可追溯的校準。BTS2048-UV 由 Gigahertz-Optik 的?ISO/IEC 17025 校準實驗室進行校準,該實驗室的光譜響應度光譜輻照度根據 ISO/IEC 17025 獲得 DAkkS (D-K-15047-01-00) 的認可。校準還包括相應的附件組件。每臺設備都附有相應的校準證書。

S-BTS2048 software for the BTS2048-UV

用于 BTS2048-UV 的 S-BTS2048 軟件

Ethernet interface reduces the datatransfer time

以太網接口縮短了數據傳輸時間

Electronic Shutter reduces the measurement time

電子快門縮短了測量時間

規格:

常規
簡短描述:紫外優化型 TE 冷卻 CCD 光譜儀,具有寬動態范圍,可用于連續波和短期測量輻照度、光譜和峰值波長。其他參數的附件。
主要特點:緊湊的設備。BiTec 探測器,帶有背照式 TE 冷卻 CCD(2048 像素,0.8 nm 光學分辨率,電子快門)和 SiC 光電二極管。光帶寬校正 (CIE214)。帶百葉窗和邊緣濾鏡的濾光輪。帶擴散器窗口的輸入鏡頭。余弦視野。
測量范圍:3E-5 W/(m2nm) 至 3E4 W/(m2nm) @325nm。響應度從 190 nm 到 430 nm。
典型應用:用于設計應用的 CCD 光譜輻射儀。用于集成到前端和后端 LED 測試系統的模塊。
校準:工廠校準。可追溯至國際校準標準
產品
典型應用:用于光譜輻照度、紅斑等的測光表
測量數量:光譜輻照度 (W/(m2 nm))、輻照度 (W/m2)、峰值波長、中心波長、質心波長、紅斑。可選積分球:此外還有光譜輻射功率 (W/nm) 和輻射功率 (W)
輸入光學元件:擴散器,余弦校正視野 (f2 ≤ 3 %)
濾光片轉盤:4 個位置(開放式、閉合式、濾光片)。用于遠程暗電流測量和雜散光減少。
BiTec:可以使用二極管和陣列進行并行測量,從而通過二極管對陣列進行線性校正,并通過 a*(s 在線校正二極管的光譜失配z(λ)) 分別為 F*(sz(λ))。
校準不確定度:光譜輻照度
λu(k=2)
(200 – 239) 納米± 9 %
(240 – 339) 納米± 6.8 %
(340 – 359) 納米± 5 %
(360 – 399) 納米± 4.3 %
(400 – 430) 納米± 4 %

光譜輻照度響應度 (200 – 430) nm

測量模式:

標準測量模式:200 nm 至 430 nm

超出范圍的雜散光校正測量模式 (OoR SLC):200 nm 至 430 nm

雜散光校正帶通測量模式 (BP SLC):300 nm 至 386 nm

光譜檢測器:

集成檢測器:
測量時間:(0.1 – 6000) 毫秒
測量范圍:七 (7) 個測量范圍,具有卓越的偏移校正
校準:輻照度 ± 6 % *10
模數轉換器:16 位
測量范圍:可選:(5E-3 – 2E5) W/m2 *11
濾波器:可選:對 220 nm 至 360 nm 的矩形函數的響應度進行數學調整(SMCF 使用測量的光譜數據對輻射函數進行在線校正)。

* 二極管的光譜響應度與矩形函數不對應(使用濾光片時無法實現)。當測量光譜偏離集成檢測器校準光譜(UV LED,峰值為 405 nm)的光源時,使用 SMCF 校正測量結果。這種校正的不確定性取決于測量光譜的質量(噪聲)和校正因子的大小(光譜范圍)。

雜項:


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