BTS2048-UV
使用這款高質量的緊湊型光譜輻射計進行紫外線測量
- 高雜散光減少(BTS2048-UV-S 的縮小濾光片版本)
- 超快速接口和電子快門
- 高光學分辨率
- 適用于各種測量任務(UV LED、氘燈、鎢燈到太陽輻射)
- 高雜散光減少有助于將精確校準轉換為精確測量
概述:
紫外 CCD 光譜輻射儀與寬帶 CCD 光譜儀
傳統 CCD 探測器的光譜響應度通常在 200 nm 至 430 nm 范圍內。通常,CCD 探測器的這個寬光譜響應范圍被稱為光譜輻射計的響應范圍。然而,這沒有考慮色散光柵的光譜響應函數,這進一步降低了檢測器在紫外光譜中的響應度。這會導致 UV 測量信號出現重大誤差,主要是通過長波雜散光。寬帶光譜儀的光譜分辨率通常不足以保證精確測量窄帶 UV LED。
專為紫外輻射設計的 CCD 光譜儀具有有限的光譜范圍,并允許非常高的光柵效率和非常高的光譜分辨率。此外,濾光片還可用于顯著減少雜散光。
用于紫外線輻射的 BTS2048-UV CCD 分光輻射儀
BTS2048-UV 滿足高端紫外二極管陣列光譜儀的所有要求,盡管采用尖端技術,但價格極具吸引力。
BiTec 傳感器的一個獨特之處在于它結合了背照式 CCD 光譜儀和硅光電二極管,可提供高線性度,從而實現極快的測量。采用熱電冷卻的完全線性化 2048 像素 CCD 探測器的積分時間范圍為 2 μs 至 60 s,因此具有非常寬的動態范圍。這使得能夠在較寬的強度范圍內精確測量 UV LED。該設計在整個光譜測量范圍內提供了0.8納米的高光學分辨率,從190納米到430納米。光譜儀還配備了兩個用于自動低雜散光測量的濾光片。對于存在其他光源的寬帶 UV 燈和 UV LED 來說,這種測量是必要的。BiTec 探測器內的極高線性度 SiC 光電二極管用于 CCD 的線性化或用作參考探測器。SiC 光電二極管的輻射響應功能使其能夠獨立于 CCD 使用。輻射精度可以使用相應的光譜數據進行自動校正。因此,該設備可用于對非常微弱的信號進行快速測量,這使得 BTS20418-UV 非常適合集成到測角儀中。盡管尺寸緊湊(103 mm x 107 mm x 52 mm – 長 x 寬 x 高),但 BTS2048-UV 光譜輻射儀有一個遙控濾光輪,帶有兩個濾光片和一個用于暗測量的快門。
精確光譜輻射測量(低雜散光)
為了便于最佳地使用 CCD 傳感器的動態范圍并克服大多數陣列光譜輻射計在 UV 范圍內的問題,在光束路徑中放置了一個遙控濾光片輪(開放式、閉合式、濾光片)。該濾光片與智能測量和雜散光校正程序相結合,可實現 BTS2048-UV 的高質量測量。
BTS2048-UV 針對其他 UV 源的一般測量進行了優化。Gigahertz-Optik 的雜散光校準技術與進一步的智能測量程序相結合,可實現卓越的雜散光抑制。可根據要求選擇校準 BTS2048-UV 附加雜散光校正矩陣。
絕對校準,絕對輻照度低至 200 nm!
多年的經驗和設備齊全的 DAkkS 校準實驗室 (D-K-15047-01-00) 使 Gigahertz-Optik 能夠提供低至 200 nm 的可追溯校準。這拓寬了 BTS2048-UV 和 UV-C-LED 的應用范圍。對于短波光譜范圍,Gigahertz-Optik GmbH 實施了一種特殊的基于氘燈的校準策略。
用于前端和后端 LED 測試測量
BTS2048-UV 非常適合在工業應用中測試 UV 前端和后端 LED。其 CCD 檢測器在觸發測量之前集成了所有像素的電子零點設置功能(電子快門)。當測試 LED 在脈沖電流模式下運行時,電子快門和測量觸發可以通過觸發端口與電源同步。強大的微處理器只需 7 ms 即可通過快速 LAN 接口將完整的數據集傳輸到系統計算機。
直接安裝,無需使用導光板
BTS2048-UV 光譜輻射儀具有擴散窗口,因此可用于測量紫外線輻照度,包括光譜和峰值波長,無需任何額外的附件組件。借助擴散窗口,BTS2048-UV 還可以直接安裝在積分球、輻射鏡和測角儀等附件上,以測量輻射功率、輻射度和輻射度分布。
用戶軟件和開發人員軟件
標準的?S-BTS2048?用戶軟件具有可定制的用戶界面,并提供大量的顯示和功能模塊,這些模塊可以在使用 Gigahertz-Optik GmbH 的相應附件組件配置 BTS2048-UV 時激活。S-SDK-BTS2048?開發軟件用于將 BTS2048-UV 集成到客戶自己的軟件中。
校準
光度測量設備的一個基本質量特征是其精確和可追溯的校準。BTS2048-UV 由 Gigahertz-Optik 的?ISO/IEC 17025 校準實驗室進行校準,該實驗室的光譜響應度和光譜輻照度根據 ISO/IEC 17025 獲得 DAkkS (D-K-15047-01-00) 的認可。校準還包括相應的附件組件。每臺設備都附有相應的校準證書。

用于 BTS2048-UV 的 S-BTS2048 軟件

以太網接口縮短了數據傳輸時間

電子快門縮短了測量時間
規格:
常規
產品
λ | u(k=2) |
(200 – 239) 納米 | ± 9 % |
(240 – 339) 納米 | ± 6.8 % |
(340 – 359) 納米 | ± 5 % |
(360 – 399) 納米 | ± 4.3 % |
(400 – 430) 納米 | ± 4 % |
光譜輻照度響應度 (200 – 430) nm
標準測量模式:200 nm 至 430 nm
超出范圍的雜散光校正測量模式 (OoR SLC):200 nm 至 430 nm
雜散光校正帶通測量模式 (BP SLC):300 nm 至 386 nm
光譜檢測器:
集成檢測器:
* 二極管的光譜響應度與矩形函數不對應(使用濾光片時無法實現)。當測量光譜偏離集成檢測器校準光譜(UV LED,峰值為 405 nm)的光源時,使用 SMCF 校正測量結果。這種校正的不確定性取決于測量光譜的質量(噪聲)和校正因子的大?。ü庾V范圍)。