GTEK AUTOMATION泄漏測(cè)試儀T3LD

T3LD是一種創(chuàng)新設(shè)備,旨在通過壓差法進(jìn)行泄漏測(cè)試。通過測(cè)量被測(cè)產(chǎn)品和參考樣品之間的壓差,減少了測(cè)試時(shí)間,提高了測(cè)試靈敏度。其高測(cè)量分辨率和測(cè)試精度,與電子壓力調(diào)節(jié)器相結(jié)合,不僅可以進(jìn)行泄漏測(cè)試,還可以進(jìn)行破壞性爆裂測(cè)試、安全閥、止回閥等。

功能

  • 全刻度泄漏測(cè)試,最高可達(dá)30巴
  • 真空分辨率為0.1帕(0.001毫巴)
  • 7色LCD顯示屏,帶觸摸屏
  • 300個(gè)測(cè)試程序
  • 300個(gè)測(cè)試序列
  • 電子壓力調(diào)節(jié)器用于PLCS、RS232/RS485串行線的數(shù)字1/0接口、用于PC和以太網(wǎng)的USB

3LD是一種創(chuàng)新的泄漏測(cè)試裝置,通過壓差法對(duì)密封產(chǎn)品進(jìn)行編程和“鐘內(nèi)”測(cè)試。以及使用簡(jiǎn)單直接的攔截方法通過測(cè)量壓差其高的測(cè)量分辨率和對(duì)被測(cè)產(chǎn)品與測(cè)試精度之間的外部自動(dòng)化的控制,結(jié)合與條形碼、Qrcodea參考樣品的接口,減少了掃描儀和打印機(jī)的測(cè)試時(shí)間和可能性,不僅可以在USB存儲(chǔ)器上記錄測(cè)試,還可以通過以太網(wǎng)進(jìn)行破壞性突發(fā)測(cè)試,使其成為一個(gè)完整的測(cè)試、安全閥打開檢查和適用于大多數(shù)顯示器和實(shí)時(shí)可視化體積控制、障礙測(cè)試的儀器現(xiàn)代生產(chǎn)應(yīng)用

壓差衰減測(cè)試

周期基于測(cè)試產(chǎn)品和參考體積之間的比較。通過這種方式,減少了測(cè)試產(chǎn)品內(nèi)部壓力沉降的影響,提高了檢測(cè)泄漏率的準(zhǔn)確性,從而在快速的間隔內(nèi)獲得了優(yōu)異的結(jié)果


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