Harrick scientific VariGATR可變角/掠角反射附件
Harrick scientific VariGATR掠角附件、VariGATR掠角ATR附件、Harrick掠角附件、Harrick ATR附件、VariGATR可變角度附件、ATR晶體、鍺半球ATR晶體、Harrick可變角/掠角反射附件
VariGATR掠角ATR附件是分析半導體和金屬基質上的單層的革命性方法。VariGATR是可變角度的，因此可以優化入射角，以獲得這類樣品的最高靈敏度。其專門設計的壓力施加器經過優化，可在樣品和Ge ATR晶體之間提供良好的接觸。VariGATR非常適合快速、可重復的測量，與掠射角方法相比，靈敏度至少提高了一個數量級。此外，它還提供了易于使用、完全預對準的水平取樣附件。
特征
- 方便的水平采樣表面。
- 內置壓力施加器，帶滑動離合器，可重復施加壓力。
- 從60°到65°的連續可變角度允許優化最大靈敏度。
- 防反沖機構允許精確、可重復的角度選擇。
- 安裝Ge ATR晶體。
- 可容納直徑達8英寸的樣品，中心取樣圓盤直徑達6英寸。
- PermaPurge用于快速凈化系統。
- 選項包括:
- 用于增強光譜對比度和取向研究的線柵偏振器。包括滑板支架。
- 帶數字讀數的力傳感器，用于精確測量ATR晶體和樣品接觸時施加的力。
- 低扭矩滑動離合器可用。
- 適用于大樣本的角度標尺觀察輔助工具。
包含
- 鍺半球ATR晶體。
- 內置壓力施加器，設計用于容納大量樣品。
- 為指定的光譜儀安裝硬件。
