Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G 布儒斯特角樣品架

Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G允許使用透射光譜在不同角度測(cè)量薄膜。這種測(cè)量用于從所得干涉條紋中提取膜厚度和折射率數(shù)據(jù)。
Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G還消除了干涉條紋，這些干涉條紋通常會(huì)遮擋弱吸收帶。當(dāng)與偏振器一起使用并以布魯斯特角定位時(shí)，p偏振光以最小的反射透過(guò)表面。

Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G主要特點(diǎn)：
以布儒斯特角或FT-IR或UV-VIS光譜儀所需的任何其他角度安裝薄膜。
準(zhǔn)確設(shè)置和讀取入射角的刻度盤(pán)。
可選支架可用于UV-VIS光譜儀。
與Harrick Scientific的高效線柵偏振器和格蘭泰勒偏振器兼容。

Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G包括：
布魯斯特角樣品架。
一個(gè)樣品支架。
滑動(dòng)板支座。

[pdfjs-viewer url=”https%3A%2F%2Fydzhly.com%2Fharrick%2Fwp-content%2Fuploads%2Fsites%2F173%2F2023%2F06%2FBXH-S1G-%E5%B8%83%E5%84%92%E6%96%AF%E7%89%B9%E8%A7%92%E6%A0%B7%E5%93%81%E6%9E%B6-CH.pdf” viewer_width=100% viewer_height=1360px fullscreen=true download=true print=true]

 


Related posts