Harrick 的 SplitPea ™ 是一種水平 ATR 附件, 具有所有 ATR 附件中最小的采樣面積 – 其 Si ATR 晶體的直徑小于 250 μm,其鉆石 ATR 的直徑小于 500 μm。SplitPea™ 配置為施加局部的測量壓力,在樣品和 ATR 晶體之間產(chǎn)生更好的接觸。這使得它成為各種樣品快速、簡便的光譜測量的理想選擇。其中包括:硬樣品,如油漆芯片和組合化學(xué)基材;小樣品,如單個纖維和納米升的液體;大樣品,如透明膜及其缺陷。對于在采樣區(qū)域定位樣品,提供 50 倍觀察顯微鏡。除了使 ATR 納米采樣簡單明了之外, SplitPea ™ 還具有 PermaPurge™, 無需中斷光譜儀的清除, 即可快速進行采樣和晶體交換。Harrick SplitPea™ HATR 附件是紅外顯微鏡、光束冷凝器和金剛石電池的創(chuàng)新替代品。

特征：

ATR 和鏡面反射功能提供了應(yīng)用多功能性。
由于樣品制備很少或根本沒有,樣品吞吐量高。
通常保留樣本完整性。
采樣面積小 – 硅晶體 ATR 的直徑小于 250 μm,金剛石直徑小于 500 μm。
由于采樣區(qū)域小,可最大程度地減少雜散光。
惰性 ATR 晶體可從 NIR 到遠(yuǎn)紅外使用。
校準(zhǔn)壓力施用器,用于可重復(fù)的 ATR 測量。
專為 ATR 晶體和硬表面固體之間的最佳接觸而設(shè)計。
翻轉(zhuǎn)、流線型壓力施用器,便于訪問采樣區(qū)域。
使用 DTGS 探測器實現(xiàn)高能量吞吐量。
Harrick 的獨家 PermaPurge™可在不中斷 FT-IR 系統(tǒng)的凈化的情況下快速樣品和 ATR 晶體交換。
防濺蓋。
升級到 50X ViewThruPress™以便更輕松地查看采樣區(qū)域。
選項包括流通液單元和可加熱采樣板,可工作至 200°C。

包括

兩個 ATR 支架,安裝有 Si 半球,或一個 ATR 支架帶有鑲嵌鉆石 ATR 半球。
用于 ATR 研究粉末的粉末固定器。
鏡面反射樣品支架和對準(zhǔn)鏡。
指定 FT-IR 光譜儀的配接硬件。