Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G允許使用透射光譜在不同角度測量薄膜。這種測量用于從所得干涉條紋中提取膜厚度和折射率數據。
Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G還消除了干涉條紋，這些干涉條紋通常會遮擋弱吸收帶。當與偏振器一起使用并以布魯斯特角定位時，p偏振光以最小的反射透過表面。

Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G主要特點：
以布儒斯特角或FT-IR或UV-VIS光譜儀所需的任何其他角度安裝薄膜。
準確設置和讀取入射角的刻度盤。
可選支架可用于UV-VIS光譜儀。
與Harrick Scientific的高效線柵偏振器和格蘭泰勒偏振器兼容。

Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G包括：
布魯斯特角樣品架。
一個樣品支架。
滑動板支座。

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