我們的布魯斯特角樣品架允許使用透射光譜法在不同角度測量薄膜。這種測量可以用來從大多數情況下產生的干涉條紋中提取薄膜厚度和折射率數據。

布魯斯特角樣品架還消除了干涉條紋，干涉條紋通常會模糊弱吸收帶。當與偏振器一起使用并以布魯斯特角定位時，p偏振光以最小反射透過表面。

布魯斯特角樣品架主要應用：
當使用偏振器時，模糊弱吸收帶，消除干擾條紋。
便于從透射測量中確定薄膜厚度和折射率

布魯斯特角樣品架主要特征：

在紅外或紫外分光計中，以布儒斯特角或任何其他角度安裝薄膜。
精確設置和讀取入射角的刻度盤.
測量不同入射角度下樣品的透射率
支架可放入固體樣品支架中
兼容Harrick Scientific的高效線柵偏振器和Glan-Taylor偏振器

標準配置：
布魯斯特角樣品架
一個樣品支架
安裝滑板.

搭配配件：

格蘭-湯普森偏振器-PTH-SMP ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 線柵偏振器-PWG-U1R

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