我們的布魯斯特角樣品架允許使用透射光譜法在不同角度測量薄膜。這些測量用于從產生的干涉條紋中提取薄膜厚度和折射率數據。

布儒斯特角樣品架還消除了通常遮蔽弱吸收帶的干涉條紋。當與偏振器一起使用且位于布魯斯特角時，p-偏振光通過反射最小的表面傳輸。

特征

以布魯斯特角或FT-IR或UV-VIS光譜儀所需的任何其他角度安裝薄膜。

精確設置和讀取入射角的刻度盤。

可選安裝在紫外可見光譜儀上。

與Harrick Scientific的高效線柵偏振器和Glan Taylor偏振器兼容。

包括

布魯斯特角樣品架。

一個樣品支架。

滑板安裝。