Omni-Diff™ 光纖探頭可通過光纖連接到幾乎任何光譜儀。配有輸出和輸入SMA連接器，可輕易連接到光纖耦合器，如FM2. 這款探頭非常適用于對測量距離光譜儀1.5米遠的樣品進行漫反射分析。 Omni-Diff 主要測量樣品漫反射的輻射，使鏡面反射組件偏離光學收集元件。 可選擇用于紫外可見光，近紅外和中紅外的光纖，以及用于樣品照相記錄的數字成像系統。Omni-Diff 是檢測因尺寸太大無法放入光譜儀中測量的樣品，是檢測干凈粉末和粗糙表面固體的理想選擇。

Omni-Diff紫外探頭主要應用：

?用于分析尺寸太大而無法放入樣品艙進行常規測量的粗糙表面的固體
?無需樣品制備的粉末
?進行漫反射測量的樣品的攝影記錄

Omni-Diff光纖探頭主要特征：
? 便攜且方便使用。
? 適用于紫外到近紅外測量。為了獲得最佳性能，建議中紅外測量時使用MCT探測器
? 將收集的漫反射光最大化，同事將鏡面反射組件最小化
? 兩個標準的 905 SMA 接口用于連接合適的光纖電纜
? 可提供1.5米長的光纖：
Vis/Near-IR 光纖用于從 350 nm至 2250 nm.
Near/Mid-IR光纖用于從 6500 cm-1 至 2240 cm-1 和1700 cm-1.
Mid-IR光纖用于從 2000cm-1 至 600 cm-1.
? 可選視頻成像和照明系統(如下圖中):
? 放大圖片便于觀察
? 直接查看采樣表面
? 包含照明軟件，實時查看和存儲圖像
? USB2 兼容
? CE 標記.
? 可選參考材料用于中紅外和可見/近紅外的研究