VariGATR™ Grazing Angle ATR附件是分析半導體和金屬基板上的單層的革命性方法。VariGATR™ 是可變角度,因此,對于這些類型的樣品,可以針對最高的靈敏度進行優(yōu)化。其專門設(shè)計的壓力施用器經(jīng)過優(yōu)化,可為樣品和 Ge ATR 晶體提供良好的接觸。VariGATR™ 非常適合快速、可重復的測量,并且相對于放牧角度方法,靈敏度至少提高了一個數(shù)量級。此外,它還提供了易于使用、完全預(yù)對齊的水平采樣附件的便利性。

特點：

方便的水平采樣表面。
內(nèi)置壓力施用器,帶滑動離合器,可重復壓力應(yīng)用。
從 60o 到 65o 的連續(xù)可變角度,可實現(xiàn)最佳靈敏度的優(yōu)化。
抗反沖機制允許精確、可重現(xiàn)的角度選擇。
安裝 Ge ATR 晶體。
可容納多達 8* 的樣品。直徑,圓盤的中心采樣直徑可達6″。
permaPurge™用于快速清除系統(tǒng)。
選項包括:
用于增強光譜對比度和方向研究的線柵偏振器。包括滑動板安裝。
帶數(shù)字讀數(shù)的力傳感器,用于精確測量施加的力,以實現(xiàn) ATR 晶體與樣品之間的接觸。
提供低扭矩滑離合器。
大樣本的角刻度查看助手。

包括

格半球ATR晶體。
內(nèi)置壓力施用器,設(shè)計用于容納大型樣品。
用于指定光譜儀的安裝硬件。