美國(guó)InfraRed 常溫碲鎘汞探測(cè)器–Room Temperature HgCdTe

常溫碲鎘汞探測(cè)器–Room Temperature HgCdTe

Infrared Associates公司現(xiàn)在可以提供室溫碲鎘汞檢測(cè)器,覆蓋的波長(zhǎng)范圍從1μm至6μm。這些探測(cè)器同時(shí)提供高靈敏度和操作簡(jiǎn)便性。它們提供一系列的可選擇包選項(xiàng)。此外,對(duì)于這些應(yīng)用中,如不關(guān)注溫度漂移,導(dǎo)致變化的檢測(cè)器的性能*,熱穩(wěn)定性可通過安裝在檢測(cè)器元件上的單級(jí)制冷器來完成。這將允許在檢測(cè)器保持在20-25攝氏度的溫度下,在寬的環(huán)境溫度范圍內(nèi),同時(shí)確保穩(wěn)定的檢測(cè)器性能。

*每度提高環(huán)境溫度, D *峰相應(yīng)有?2%的減少!

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