
這根 Bell 206 控制桿的損壞位于小直徑曲線上,靠近凸起區(qū)域。這使得技術(shù)人員無(wú)法將坑規(guī)定位在受損區(qū)域進(jìn)行測(cè)量。因此,這個(gè)特性必須在R&R比較中完全省略。 然而,在實(shí)驗(yàn)室支架上使用光學(xué)千分尺,技術(shù)人員能夠在 0.0140 英寸處重復(fù)測(cè)量損傷深度。

對(duì)這個(gè)彎曲部分的損傷的深度測(cè)量范圍從低 0.0090 英寸到高 0.0110 英寸不等,而光學(xué)千分尺能夠保持更嚴(yán)格的公差,范圍更窄,從低 0.0095 英寸到高 0.0105 英寸。這個(gè)結(jié)果反映在主要R&R研究報(bào)告的結(jié)果中,其中光學(xué)測(cè)微計(jì)在對(duì)彎曲噴氣罩進(jìn)行的所有測(cè)量中,在可重復(fù)性和再現(xiàn)性方面都有顯著更好的結(jié)果。