J chadwick 4400M表面復(fù)制套件,帶Microset?

消除“維修或更換”決策過(guò)程中的猜測(cè),通過(guò)識(shí)別可以安全維修并恢復(fù)使用的部件來(lái)節(jié)省資源,從而避免不必要的更換成本。
光學(xué)千分尺可用作手持設(shè)備或?qū)嶒?yàn)室支架。它適用于平面和彎曲 表面以及所有材料和飾面,包括復(fù)合材料和透明度。用它來(lái)測(cè)量劃痕碎屑、毛刺、點(diǎn)蝕顫振、劃線、雕刻標(biāo)記等的深度。
控制臂
這根 Bell 206 控制桿的損壞位于小直徑曲線上,靠近凸起區(qū)域。這使得技術(shù)人員無(wú)法將坑規(guī)定位在受損區(qū)域進(jìn)行測(cè)量。因此,這個(gè)特性必須在R&R比較中完全省略。 然而,在實(shí)驗(yàn)室支架上使用光學(xué)千分尺,技術(shù)人員能夠在 0.0140 英寸處重復(fù)測(cè)量損傷深度。

如何運(yùn)作

光學(xué)千分尺使用焦點(diǎn)來(lái)測(cè)量深度,或兩點(diǎn)之間的垂直距離。

首先,通過(guò)聚焦在受損區(qū)域旁邊的表面(表面 A)上,為測(cè)量建立一個(gè)起點(diǎn)或“零點(diǎn)”。對(duì)焦后,按下按鈕將數(shù)字顯示歸零。

接下來(lái),專注于受損區(qū)域(表面 B)的最底部,并從數(shù)字顯示屏記錄損傷的深度。

控制臂
這根 Bell 206 控制桿的損壞位于小直徑曲線上,靠近凸起區(qū)域。這使得技術(shù)人員無(wú)法將坑規(guī)定位在受損區(qū)域進(jìn)行測(cè)量。因此,這個(gè)特性必須在R&R比較中完全省略。 然而,在實(shí)驗(yàn)室支架上使用光學(xué)千分尺,技術(shù)人員能夠在 0.0140 英寸處重復(fù)測(cè)量損傷深度。

噴氣整流罩
對(duì)這個(gè)彎曲部分的損傷的深度測(cè)量范圍從低 0.0090 英寸到高 0.0110 英寸不等,而光學(xué)千分尺能夠保持更嚴(yán)格的公差,范圍更窄,從低 0.0095 英寸到高 0.0105 英寸。這個(gè)結(jié)果反映在主要R&R研究報(bào)告的結(jié)果中,其中光學(xué)測(cè)微計(jì)在對(duì)彎曲噴氣罩進(jìn)行的所有測(cè)量中,在可重復(fù)性和再現(xiàn)性方面都有顯著更好的結(jié)果。

盲孔

在這種情況下,報(bào)告表明,深度測(cè)微計(jì)在重復(fù)性和再現(xiàn)性方面的表現(xiàn)都優(yōu)于光學(xué)千分尺。然而,這是誤導(dǎo)性的,因?yàn)榭右?guī)也給出了不準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。坑的幾何形狀阻止了坑規(guī)的錐形探頭到達(dá)最深的部分。補(bǔ)充研究報(bào)告中的結(jié)果顯示,從坑規(guī)測(cè)量的平均深度為 0.0200 英寸,而光學(xué)千分尺的平均深度測(cè)量為 0.0850,或更深 400%。Pit Gages 存在非常現(xiàn)實(shí)的風(fēng)險(xiǎn),即因不良數(shù)據(jù)和誤報(bào)而進(jìn)行不當(dāng)處置。

技術(shù)信息

精度:+
/- 0.001 英寸(0.02 毫米)

測(cè)量范圍:
100X-200X 放大倍率:最大 0.2500 英寸
40X-80X 放大倍率:最大 1.2500 英寸

視場(chǎng):
0.04 英寸 – 0.18 英寸直徑

50ML 復(fù)模套件

  • 50ML 膠槍
  • 50ML 復(fù)模材料(5 支)
  • 50ML 噴嘴包(50 支/包)
  • 背襯片(50 張/包)
  • 背襯紙(100 張/包)
  • 可調(diào)角度臺(tái)座
  • 高腳三腳架測(cè)微儀底座
  • 泡沫襯墊攜帶箱

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