
這根 Bell 206 控制桿的損壞位于小直徑曲線上,靠近凸起區(qū)域。這使得技術人員無法將坑規(guī)定位在受損區(qū)域進行測量。因此,這個特性必須在R&R比較中完全省略。 然而,在實驗室支架上使用光學千分尺,技術人員能夠在 0.0140 英寸處重復測量損傷深度。

對這個彎曲部分的損傷的深度測量范圍從低 0.0090 英寸到高 0.0110 英寸不等,而光學千分尺能夠保持更嚴格的公差,范圍更窄,從低 0.0095 英寸到高 0.0105 英寸。這個結果反映在主要R&R研究報告的結果中,其中光學測微計在對彎曲噴氣罩進行的所有測量中,在可重復性和再現性方面都有顯著更好的結果。