J chadwick 4400M表面復制套件,帶Microset?

消除“維修或更換”決策過程中的猜測,通過識別可以安全維修并恢復使用的部件來節(jié)省資源,從而避免不必要的更換成本。
光學千分尺可用作手持設備或實驗室支架。它適用于平面和彎曲 表面以及所有材料和飾面,包括復合材料和透明度。用它來測量劃痕碎屑、毛刺、點蝕顫振、劃線、雕刻標記等的深度。
控制臂
這根 Bell 206 控制桿的損壞位于小直徑曲線上,靠近凸起區(qū)域。這使得技術人員無法將坑規(guī)定位在受損區(qū)域進行測量。因此,這個特性必須在R&R比較中完全省略。 然而,在實驗室支架上使用光學千分尺,技術人員能夠在 0.0140 英寸處重復測量損傷深度。

如何運作

光學千分尺使用焦點來測量深度,或兩點之間的垂直距離。

首先,通過聚焦在受損區(qū)域旁邊的表面(表面 A)上,為測量建立一個起點或“零點”。對焦后,按下按鈕將數字顯示歸零。

接下來,專注于受損區(qū)域(表面 B)的最底部,并從數字顯示屏記錄損傷的深度。

控制臂
這根 Bell 206 控制桿的損壞位于小直徑曲線上,靠近凸起區(qū)域。這使得技術人員無法將坑規(guī)定位在受損區(qū)域進行測量。因此,這個特性必須在R&R比較中完全省略。 然而,在實驗室支架上使用光學千分尺,技術人員能夠在 0.0140 英寸處重復測量損傷深度。

噴氣整流罩
對這個彎曲部分的損傷的深度測量范圍從低 0.0090 英寸到高 0.0110 英寸不等,而光學千分尺能夠保持更嚴格的公差,范圍更窄,從低 0.0095 英寸到高 0.0105 英寸。這個結果反映在主要R&R研究報告的結果中,其中光學測微計在對彎曲噴氣罩進行的所有測量中,在可重復性和再現性方面都有顯著更好的結果。

盲孔

在這種情況下,報告表明,深度測微計在重復性和再現性方面的表現都優(yōu)于光學千分尺。然而,這是誤導性的,因為坑規(guī)也給出了不準確的測量結果。坑的幾何形狀阻止了坑規(guī)的錐形探頭到達最深的部分。補充研究報告中的結果顯示,從坑規(guī)測量的平均深度為 0.0200 英寸,而光學千分尺的平均深度測量為 0.0850,或更深 400%。Pit Gages 存在非常現實的風險,即因不良數據和誤報而進行不當處置。

技術信息

精度:+
/- 0.001 英寸(0.02 毫米)

測量范圍:
100X-200X 放大倍率:最大 0.2500 英寸
40X-80X 放大倍率:最大 1.2500 英寸

視場:
0.04 英寸 – 0.18 英寸直徑

50ML 復模套件

  • 50ML 膠槍
  • 50ML 復模材料(5 支)
  • 50ML 噴嘴包(50 支/包)
  • 背襯片(50 張/包)
  • 背襯紙(100 張/包)
  • 可調角度臺座
  • 高腳三腳架測微儀底座
  • 泡沫襯墊攜帶箱

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