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Jchadwick 光學千分尺


光學千分尺是一種便攜式視覺檢測顯微鏡,旨在快速、準確且可重復地測量小表面特征(如凹坑、劃痕或零件標記)的深度。

Jchadwick 光學千分尺通過消除“修復或更換”決策過程中的猜測,幫助識別可以安全修復并重新使用的零件,從而節省資源,避免不必要的更換成本。Jchadwick 光學千分尺可以作為手持設備使用,也可以安裝在實驗室支架上。Jchadwick 光學千分尺適用于平面和曲面,以及所有材料和表面處理,包括復合材料和透明材料。它可以用于測量劃痕、缺口、毛刺、點蝕、顫振、刻線、雕刻、標記等的深度。

Jchadwick 光學千分尺工作原理
Jchadwick 光學千分尺通過聚焦來測量深度,即兩個點之間的垂直距離。首先,確定一個起始參考點或“零點”,通過聚焦在損壞區域旁邊的表面(表面A)上。一旦聚焦清晰,按下按鈕將數字顯示歸零。接下來,聚焦在損壞區域的最底部(表面B),并從數字顯示中記錄損壞的深度。這樣,用戶可以準確地測量和記錄表面特征的深度。

Jchadwick 光學千分尺技術參數:
?精度: ±0.001英寸(0.02毫米)
?測量范圍:
?100X-200X放大倍率:最大0.2500英寸
?40X-80X放大倍率:最大1.2500英寸
?視場: 直徑0.04英寸至0.18英寸

 

 


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