基于X射線輻射的測(cè)量設(shè)備的使用提供了層厚度，密度，每面積重量或材料成分的非接觸式確定。在大多數(shù)情況下，可以使用低能量X射線源。

通常，X射線輻射限于測(cè)量路徑本身，因此很難檢測(cè)到設(shè)備外部的輻射。如果需要維護(hù)生產(chǎn)設(shè)備，將關(guān)閉測(cè)量; 那么就不會(huì)有輻射。輻射不會(huì)改變或影響材料特性。

基于X射線的測(cè)量設(shè)備的典型應(yīng)用是：

• TEXAS
  散裝材料成分的測(cè)定
• FLORIDA
  測(cè)定漿料或懸浮液組合物
• OREGON
  采礦可清洗監(jiān)測(cè)
• IBERIA
  鉆孔探針
• INDIANA
  鉆孔碎片分析儀
• PANAMA
  粒度分析

– 層厚度的測(cè)量
– 材料厚度測(cè)量（鋼帶，紙張等）
– 漿料密度的測(cè)量
– 圖像分析（剝離，空腔等）

【題圖顯示了涂覆鋼帶上每單位面積質(zhì)量的測(cè)定】