Korth Kristalle光學元件、Korth Kristalle晶體、Korth Kristalle光學材料

定制組件
除了制造標準光學元件外，我們還根據客戶的規格生產一次性專用組件。這些組件包括用于安全掃描儀的閃爍體探測器以及用于醫療技術的X射線單色器等。

閃爍體晶體
我們的一些晶體被用作電離輻射的閃爍體探測器。例如，我們提供由 CsJ:Ti?制成的探測器陣列，用于機場行李控制和其他應用。

材料
BaF?, CaF?:Eu?, CsJ:Tl?, NaJ:Tl

X射線單色器
X射線單色器可根據您的規格生產，通常使用氟化鋰，但也使用許多其他晶體材料。

材料
LiF, NaCl, KBr

離子選擇性電極
LaF?:Eu

切倫科夫計數器
NaF

沉積基底
BaF?
NaCl
KBr

超高真空視窗
MgF?
CaF?

用于外延實驗的解理晶體
我們內部生產的所有可解理材料均可用于外延實驗，提供原子級平坦表面。以下材料特別適合：

NaCl, KCl, KBr

用于液體和固體分析的測量池及替換部件
我們提供多種用于光譜學領域的ATR晶體。

我們還提供可拆卸和密封的比色皿。幾十年來，比色皿一直被用于液體、油類和糊狀物的光學分析。比色皿由一個金屬框架和兩個晶體窗口（有時是熔融石英窗口）組成。待測物質被夾在兩個窗口之間。為了防止泄漏，所有鉛密封都涂有汞齊溶液。對于粘性物質，使用聚四氟乙烯密封即可。待測物質的厚度通過墊片進行調整。

我們可以根據您的規格在內部制造比色皿，或提供部件，您可以根據以下說明自行組裝比色皿。

比色皿
對于可拆卸的比色皿，我們主要使用聚四氟乙烯密封，因為這種密封易于操作和拆卸。具有預定深度的密封比色皿則使用鉛密封，并涂上汞齊溶液。密封后，我們會進行檢查，并使用光譜儀測量比色皿的精確深度。

我們提供以下標準尺寸的墊片：

墊片
（其他尺寸可按需提供）

22mm x 38.5mm

聚四氟乙烯墊片：100, 170, 200, 500, 1000μm
鉛墊片：50, 75, 100, 150, 175, 200, 500, 6000μm